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ST5000E

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  • 公司名称上海九礼川贸易有限公司
  • 品       牌
  • 型       号美国晶体管
  • 所  在  地上海市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2018/2/12 5:17:53
  • 访问次数9613
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美国STI公司全面的分立器件静态参数解决方案供应商;

    美国科学测试仪器公司,全称 Scientific Test, Inc.简称STI总部位于美国德克萨斯州达拉斯市。STI1981年成立至今,三十年如一日专注于分离器件的测试源及自动化测试设备的的开发;目前其产品广泛应用于美国军工,半导体及电子制造工厂的QC/CP/FT/FA等部门。 

        STI公司的ST5300HX系列产品是一款先进的功率器件测试仪,测试范围广覆盖几乎所有的二极管,三极管,功率管。该产品提供2000V高压,1200A大电流的静态测试的解决方案。

重要客户:

TI  IR   IXY  diodes Onsemi 三星 东芝

• ABB(瑞士)     霍尼韦尔 艾默生 爱立信

Acme Electric U.S.A.     American Reliability Labs U.S.A  International Rectifier England

• 波音客机 休斯顿工业院  Testlab N.A. U.S.A.  TRW U.S.A.等众多军工研究院及跨国公司。

技术优势:

STI全面的分立器件静态参数解决方案供应商;

测试范围广,CP/FT/FA LAB,测试种类包括96个大项,256个小项;

CURVE TRACE   (I-V曲线 )

快速智能测量,*智能控制自动测量;

采用准DC电源,宽电压电流输出2000V,1200A;

主要产品对应参数

ST1005HX         1000V 50A;

ST2005HX         2000V 50A;

ST2010HX         2000V 100A;

ST2050HX         2000V 500A;

ST2100HX         2000V 1000A;

ST2120HX         2000V 1200A;10V@1200A

ST-1000LC        1pA漏电

完整的手自动测试夹具配套解决方案SCANNER

TO-220/218,TO-72,TO-5/18,TO-92,TO-3/66,Axial (small and large),DP-4/5,

8 Pin DIP6 ,Pin TO-5,SOT-23, SOT-24, SOT-25, SOT-26,D-PAK,TO-252,SOT-89
TO-243,D2-PAK,SOT-223,TO-261,SMA,SMB,SMC,MELF

美国STI半导体测试仪
美国STI公司的ST5300HX系列产品是一款很先进的晶体管测试仪,测试范围广覆盖几乎所有的二极管,三极管,功率管。
美国STI是专业的晶体管等分立器件测试仪器,提供2000V高压,1200A大电流的测试解决方案;
目前广泛应用于电子制造工厂的FT/CP/FA/QC部门,
ST5000E 产品信息

         ST5000E测试系统是一项高速多用途半导体分立器件智能测试系统。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力。可真实准确测试达十九大类二十七分类大、中、小功率的半导体分立器件。STI产品使用比较方便,只需要通过USB或者232与电脑连接,通过电脑中友好的人机界面操作,即可完成测试。并可以实现测试数据以EXCEL的格式保存,特性曲线保存相当方便。如图所示,

测试范围:

1.二极管 Diode      2..稳压(齐纳)二极管   Zener
3.晶体管                  Transistor(NPN型/PNP型)
4.可控硅整流器(普通晶闸管)         SCR
5.双向可控硅(双向晶闸管)           TRIAC  
6.MOS场效应管                  Power MOSFET(N-沟/P-沟)
7.结型场效应管           J-FET (N-沟/P-沟,耗尽型/增强型)
 8. 三端稳压器         REGULATOR(正电压/负电压,固定/可变)  
9.绝缘栅双极大功率晶体管             IGBT(NPN型/PNP型)
10.光电耦合器            OPTO-COUPLER(NPN型/PNP型)
11.光电逻辑器件                        OPTO-LOGIC  
12.光电开关管                    OPTO-SWITCH
13.达林顿阵列         
14.固态过压保护器                      SSOVP
15.硅触发开关                          STS      
16.继电器                              RELAY(A、B、C型)
17.金属氧化物压变电阻                  MOV       
18.压变电阻                            VARISTO
19.双向触发二极管                       DIAC

技术参数及可实现目标

主极电压:1000V                  可选项:2000V
主极电流:50A                          可选项:100A ,
控制极电压:20V                     加大电流台选件可扩展到:80V
控制极电流:10A                     加大电流台选件可扩展到:40A
电压分辨率:1mV
RDSON 分辨率: 0.1 mOHM
电流分辨率:100pA
测试速度:例如测试MOSFET 6项参数(VGSTH, BVDSS,RDSON, 2xVGSON,GFS计算),仅用96毫秒,生产量约每小时37400个器件(成品测试);            

 套件:
      测试阵列器件,Multiple及达林顿阵列的扫描器(1200V,30A),遥控器,光电器件适配器,继电器适配器,
      各种测试夹具: TO-220/218,TO-3/66,TO-5/18/72/92,TO-247, SOT-23/25/26/223, D-PAK,SMA/B/C,,空白插座等等

1.MOSFET测试项目:IDSS/V,IFSSF,IGSSR,BVDSS,VGSTH,
  GFS,VDSON,VSD,RDSON,IDON,VGSON


2.IGBT 测试项目:ICES,IGESF,IGESR,BVCES,VGETH,GFE
  VCESAT,ICON,RDSON,VGEON,VF
 

3.普通晶体管测试项目: IEBO,ICBO,ICEO/R/S/V,BVCBO,
  BVEBO,BVCEO,VCESUS,hFE,VCESAT,VBESAT,VBEON
 

4.可控硅SCR测试项目:IDRM, IRRM, IGKO,VDRM, VRRM,
    BVGKO, VTM, IGT, VGT, IL, IH

CURVE TRACER:

MOSFET

 

SIDAC

 

ID vs VDS

   

IT vs VT+

 

ID vs VGS

 

 

IT vs VT-

 

IS vs VSD

 

 

 

 

RDSON vs ID

 

DIAC

 

RDSON vs VG

 

 

IT vs VT+

 

IDSS vs VDS

 

 

IT vs VT-

     

 

 

TRANSISTOR

 

SSOVP

 

HFE vs IC             

 

 

IT vs VT+

 

IC vs VCE

 

 

IT vs VT-

 

VBESAT vs IC

 

 

 

 

BVEBO vs IE

     

 

ICBO vs VCB

     

 

VBE vs IC

     
 

VCESAT vs IB

     
 

BVCE vs IC

     
         

IGBT

     
 

ICES vs VCE

     
 

IC vs VCE

     
 

IC vs VGE

     
         

JFET

     
 

IDOFF vs VDS

     
 

IDOFF vs VGS

     
 

IDON vs VDS

     
 

IDON vs VGS

     
         

ZENER

     
 

IF vs VF

     
 

IR vs VR

     
 

IZ vs BVZ

     
         

DIODE

     
 

IF vs VF

     
 

IR vs VR

     
         

SCR

     
 

IT vs VTM

     



 

           主要型号:

ST1005E         1000V 50A;

ST2005E         2000V 50A;

ST2010E        2000V 100A;

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