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奥林巴斯Olympus38DL PLUS超声测厚仪

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  • 公司名称青岛纵横仪器有限公司
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  • 所  在  地
  • 厂商性质经销商
  • 更新时间2022/8/19 17:11:23
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显微镜
38DLPLUS测厚仪是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器
奥林巴斯Olympus38DL PLUS超声测厚仪 产品信息




奥林巴斯Olympus38DL PLUS超声测厚仪

奥林巴斯Olympus38DL PLUS超声测厚仪奥林巴斯Olympus38DL PLUS超声测厚仪奥林巴斯Olympus38DL PLUS超声测厚仪

38DL PLUS测厚仪是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可地适用于几乎所有超声测厚应用,而且与所有双晶和单晶探头*兼容。功能齐全的38DL PLUS测厚仪可用于各种应用,包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量,以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的极其精确的壁厚测量。

38DL PLUS的标准配置带有很多既强大又易于使用的测量功能,以及一些专用于某些特殊应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求,可以抵御极其潮湿或多沙尘的严酷的环境条件。彩色透反VGA显示功能使得测厚仪显示屏无论在明亮的阳光下还是在*的黑暗中都能具有的可视性。测厚仪的键区既简洁又符合人体工程学的要求。操作人员使用左手或右手即可轻易访问所有功能。

主要特性

• 可与双晶和单晶探头兼容。
• 宽泛的厚度范围:0.08毫米~635毫米,根据材料和所选探头而定。
• 使用双晶探头进行腐蚀测厚。
• 穿透涂层和回波到回波测量功能,用于测量表面带有漆层和涂层的材料。
• 内部氧化层/沉积物软件选项。
• 对于所有探头,标准分辨率为0.01毫米。
• 使用频率范围为2.25 MHz~30 MHz的单晶探头,高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量。
• 多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。
• 高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。
• 厚度、声速和渡越时间测量。
• 差分模式和缩减率模式。
• 时基B扫描模式;每次扫查可获得10000个可查读数。
• 带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。
• 用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。
• 设计符合EN15317标准。


这款测厚仪与其他测厚仪有何不同?

38DL PLUS测厚仪的设计宗旨是满足苛刻的应用要求,而且可在野外和生产现场的恶劣条件下正常工作。无论检测现场多么潮湿、有多大的尘沙、多么寒冷或多么炎热、多么明亮或多么黑暗,38DL PLUS都可以正常进行检测工作。如果您需要一款防撞击、防坠落、坚固结实的测厚仪器,那么,符合IP67评级标准、带有橡胶保护套的38DL PLUS正是您要寻找的仪器。

显示


彩色透反VGA显示

液晶显示,显示屏尺寸:56.16毫米 X 74.88毫米

检波

全波、RF波、正半波、负半波

输入/输出


USB

1.0从接口。

RS-232

有。

存储卡

容量:2 GB外置MicroSD存储卡。

视频输出

VGA输出标准。

内置数据记录器


数据记录器

38DL PLUS通过标准RS-232串口或USB端口识别、存储、回放、清除、传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。

容量

475000个厚度测量读数,或20000个带厚度值的波形。

文件名称、ID编码及注释

32位字符的文件名,20位字符的字母数字位码,每个位有四个注释。

文件结构

9个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构。

报告

机载报告总结了数据统计、带有位置信息的最小值/值、最小值回顾、文件比较及报警报告。

软件选项

38DLP-OXIDE (U8147014)使用编码激活的内部氧化层测量软件。
38DLP-HR (U8147015)使用编码激活的高分辨率测量软件。
38DLP-MM (U8147016)使用编码激活的多层测量软件。
38DLP-HP (U8147017)使用编码激活的高穿透(低频)测量软件。

选购附件

38DLP/EW (U8778348)3年保修。
1/2XA/E110 (U8767104)用于E110-SB EMAT探头的滤波器适配器。
38-9F6 (U8840167)RS-232线缆
38-C-USB-IP67 (U8800998)USB线缆,用于符合IP67标准的密封操作。
38DLP/RFS (U8780288)脚踏开关,厂内安装。
HPV/C (U8780124)数字式卡尺线缆,用于在测量声速时进行厚度输入。
38DLP-V-CC (U8840172) 数字式卡尺线缆。
38DLP/BCW/NC (U8780289)棒材编码读取器。
EPLTC-C-VGA-6 (U8840035)VGA输出线缆。
MICROSD-ADP-2GB (U8779307)2 GB外置MicroSD存储卡。



测量


双晶探头测量模式

从激励脉冲后的精确延时到个回波之间的时间间隔。

穿透涂层测量模式

利用单个底面回波(使用D7906-SM和D7908探头),测量金属的实际厚度和涂层厚度。

穿透漆层回波到回波测量模式

在两个连续底面回波之间的时间间隔,不计漆层或涂层的厚度。

单晶探头测量模式

模式1激励脉冲与个底面回波之间的时间间隔。
模式2延迟线回波与个底面回波之间的时间间隔(使用延迟线式或水浸式探头)。
模式3在激励脉冲之后,位于个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔(使用延迟线式或水浸式探头)。
氧化层模式:可选。
多层模式:可选。

厚度范围

0.080毫米~635.00毫米,视材料、探头表面条件、温度和所选配置而定。

材料声速范围

0.508 mm/μs~13.998 mm/μs

分辨率(可选择)

低分辨率:0.1毫米
标准分辨率:0.01毫米
高分辨率(可选项):0.001毫米

探头频率范围

标准:2.0 MHz~30 MHz(-3 dB)
高穿透(可选项):0.50 MHz~30 MHz(-3 dB)

一般规格


工作温度范围

-10°C~50°C

键区

密封、以色彩区分功能的键盘,带有触感及声音反馈。

机壳

防撞击、防水、装有密封垫的机壳;机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。

外型尺寸(宽 x 高 x 厚)

总体尺寸:125毫米x211毫米x46毫米

重量

0.814公斤

电源

AC/DC适配器,24 V;锂离子电池,23.760 Wh;或4节AA辅助电池。

锂离子电池供电时间

工作时间:最少12.6小时,一般14小时,最多14.7小时。快速充电:2小时到3小时。

标准

设计符合EN15317标准。



关键词:测厚仪
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