薄膜检测专用薄膜测厚仪_自动膜材厚度测量仪

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　　厚度是软塑包装材料的重要性能指标，与材料整体的性能优劣及均匀性能息息相关。对于同种材质的单层薄膜材料来说，材料的强度、阻隔性一般随厚度的增加而增加，而复合膜包装的强度及阻隔性则与材料中主要强度层、阻隔层的厚度有关。因此，及时测试材料厚度对确保包装的性能可达到预期值具有重要意义。

　　生产工艺参数决定了薄膜厚度及均匀性，如模头温度、压力、吹胀比等，通过对薄膜厚度的监测可及时调整生产工艺，提高产品质量。在测试薄膜厚度时，需要频繁移动试样使每两个测试点间隔一定的距离，且环境中的轻微振动及施加到试样表面的压力等因素均会影响测试结果。Labthink C640测厚仪是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机，更加准确、高效的进行连续多点测量。该测厚仪可降低机械振动、固定试验压力、自动移动试样的自动测试包装材料厚度。

　　LABTHINK兰光 C640测厚仪试验原理：该设备采用机械接触式测试原理，通过位移传感器测试薄膜材料的厚度。设备采用测量头与传感器一体化设计，在测试试样之前，测量头落在设备砧板上，传感器读取测量头的初始位移值，测量头抬起后，将试样放置在砧板纸上，测量头以同样的压力落在试样上，传感器读取测量头的位移值，两次位移值之差则为试样的厚度值。设备配置有自动进样机，一个点测试完成后，自动进样机以设定的速度驱动试样移动，实现样品自动间隔取点测试。

　　测厚仪适用范围：(1) 适用于各种塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、纸板、复合纸板等材料的厚度测定，并可扩展至硅片，箔片，各种金属片，瓦楞纸板，编织物、针织物、涂层织物等纺织材料，尿不湿、卫生巾、口罩等非织造布，固体绝缘材料，胶粘带，土工合成材料，橡胶等材料厚度的测试。(2) 可满足国内外多项国家、国际标准，如GB/T 6672、ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702等。