芯片冷热冲击测试箱

芯片冷热冲击测试箱

设备介绍：

芯片冷热冲击测试箱称为高低温冷热冲击试验柜，是金属、光电、橡胶、塑料、电子等工业成品或材料行业的温度极速转换破坏型测试设备，常用于测试产品或材料结构及复合材料，在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，得以在追短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。更多了咨询

容积50升对应的:宽35x高35x深40cm；

容积80升对应的:宽50x高40x深40cm；

容积100升对应的:宽60x高40x深40cm；

容积150升对应的:宽60x高50x深50cm；

容积250升对应的:宽70x高60x深60cm;

容积1000升对应的:宽100x高100x深100cm;更多非标的容积可定制。

高温 +60～150℃（固定）.低温 A：(-10～ -40℃) B：(-10～ -55℃)D：( -10～ -65℃)（可选择其中一个低温配高温）

高温储温箱追高范围可达：+60 ~200℃.

低温储温箱追低范围可达：-10℃~-75℃

高低温转换时间：≤10S

风门启动时间：≤3S

高低温恢复时间：3~5min（非线性空载下）

预冷区降温速度： ≥2℃/min（非线性）

预热区升温速度： ≥3℃/min（非线性）

控制精度：温度±0.2℃（指控制器设定值和控制器实测值之差）

温度波动度：≤0.5℃（温度波动度为中心点实测高温度和低温度之差的一半）

温度均匀度：≤2.0℃（温度均匀度为每次测试中实测高温度和低温度之差的算术平均值）

控制器采用微彩色计算机液晶显示触控式控制器OYO9226S，追多120 程度,3个段. 每一個命令可達999次; 程式段時間設定0～99Hour59Min。

内箱材质：优质SUS304不锈钢，具有良好的耐蚀性、耐热性，低温强度和机械特性；冲压、弯曲等热加工性好，无热处理硬化现象（无磁性，使用温度-196℃～800℃）

外箱材质：特殊防锈处理之钢板喷塑或SUS 304#纹路处理之不锈钢.

芯片冷热冲击测试箱控制系统: 

1. 控制器: 日本进口OYO9226S控制器，LED数显 （P、I、D ＋S、S、R.）微电脑集成控制器 

2. 制冷系统: 全封闭风冷单级压缩制冷方式,原装法国“泰康”全封闭压缩机，风冷复迭压缩制冷方式 

3. 加热系统: 全独立系统，镍铬合金电加热式加热器 

4. 循环系统: 耐温低噪音空调型电机.多叶式离心风轮 

5. 标准配置: 冲击试验箱配有多层加热触霜附照明玻璃视窗1套、试品架2个、测试引线孔（50mm）1个 

6. 温度转换时间: 从低温区到高温区或 从高温区到低温区 ≤10S 

7. 温度回复时间: ≤5min(与温度恢复条件有关，既冷却水温、暴露温差、恒温时间、样品重量有关） 

8. 温度冲击方法: 垂直两箱法 / 垂直三箱法

9. 安全保护: 短路、超温、漏电、电机过热、压缩机超压、过载、过电流保护等众多保护保护整机安全性能。