日本电子 JXA-8530F 电子探针显微镜分析仪

日本电子 JXA-8530F 电子探针显微镜分析仪可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。 日本电子新开发出的EPMA （电子探针）秉承近半个世纪的EPMA的发展历史，JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高精度、快速分析，这是JEOL长年来对高可靠性硬件不断改良的结果。JXA-8230电子探针是下一代能多种需求的强力分析工具之一。 - EPMA快速启动，点击任何一点，就能开始预设的EDS定性、定量分析或WDS分析。 - 用户菜单（User recipes），能保存或调用经常使用的各种不同类型的样品分析条件，菜单中包括了全部的电子光学参数、EDS和WDS参数在内。 - EDS 的性能，数字化脉冲处理器，全谱面分布(WD/ED, 样品台和电子束扫描)，无风扇SDD (选配)
日本电子 JXA-8530F 电子探针显微镜分析仪PC平台操作
快速启动
用户菜单
“Point ﹠Click”分析功能
实时显示重叠的X-射线图像(WDS)
EDS 谱图成像
新开发的、用于极轻元素分析的分光晶体 
用FE电子枪进行高空间分辨率成像
常规的EPMA的热发射电子枪使用钨或六硼化镧灯丝，而场发射电子枪提供的探针直径只有传统的1/2～1/10。
FE电子枪即使在低加速电压下使用大探针电流，也能够提供小束斑，因此可以进行高空间分辨率的WDS分析。
“Click Point Analysis”功能和用户菜单（User,s recipe）
Click Point Analysis功能允许用户只需简单地在二次电子像或背散射电子像上点击任意一点，就能获得WDS谱图和半定量分析结果。用户菜单（User,s recipe）能为访问预设的分析条件提供方便，这些功能旨在通过这些zui简便的操作，zui大限度地提高FE-EPMA的效率。
*的操作
用户可以根据他们的研究目标设计详细的分析程序，如复杂的纳米区域的元素定量分析。系统中集成了完整的应用程序和易于使用的软件包，提供了广泛的数据分析方法和工具，例如，电子束追踪功能可使极微小区域上长时间的面分析、点分析更容易执行，而无需担心电子束漂移。
WD/ED组合系统
拥有使用方便的WD/ ED组合系统，纳入了JEO*进的WDS和EDS探测器，组合使用擅长微量元素分析的WDS和广受赞誉的EDS系统，JXA-8530F成为高效采集定量分析数据、高倍率电子束扫描面分布及大面积样品台扫描面分布的强有力工具之一。