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FISCHER X-RAY系列X射线荧光测厚仪

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  • 公司名称上海时滨电子科技有限公司
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  • 厂商性质其他
  • 更新时间2022/10/12 15:56:18
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FISCHER X-RAY系列X射线荧光测厚仪 产品信息

FISCHER X-RAY系列X射线荧光测厚仪

专为测量PCB板和晶圆而设计的仪器

菲希尔(FISCHER)专为测量PCB和晶圆设计的X射线荧光测厚及材料分析仪


FISCHERSCOPE XUL稳定和低成本的X射线荧光测厚仪,用于非破坏性的金属分析和涂层厚度测量


FISCHERSCOPE XULM X射线测厚仪,用于对小部件进行非破坏性的材料分析和涂镀层厚度测量,如银层测厚、金层测厚


FISCHERSCOPE XAN220/222 X射线荧光测量仪,用于快速、无损地分析黄金和银合金


FISCHERSCOPE XAN250/252高性能X射线荧光测量仪,配有**进的硅漂移探测器(SDD),可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。


FISCHERSCOPE XDL X射线测厚仪带有可编程的 X/Y台和Z轴,用于自动测量涂镀层厚度和材料分析,如铜厚测量及铬层测厚等


FISCHERSCOPE XDLM X射线荧光测厚仪,用于对电路板、电子元件和批量零件的涂层厚度进行手动或自动测量,也适用于小型结构


FISCHERSCOPE XDAL X射线荧光测量仪带有可编程的 X/Y台和Z轴,用于自动测量涂镀层厚度和材料分析


FISCHERSCOPE XDV-SDD满足高要求的 X 射线荧光测试仪,带有可编程的 X/Y 工作台和 Z 轴,用于自动测量极薄的涂层和进行印痕分析


FISCHERSCOPE XDV-µ X射线荧光测厚仪,配有多毛细孔 X 射线光学系统,可自动测量和分析微小部件及结构上镍钯金镀层厚度和成分。


FISCHERSCOPE XUV773 X射线荧光测量仪带有真空室,通用型**设备测量具有全面的测量能力


FISCHERSCOPE X-RAY4000 X射线荧光测量系统,用于在光滑的和压印的(包括带有铸模接触面)带钢生产工艺中进行连续的在线测量和分析


FISCHERSCOPE X-RAY5000 X射线荧光测量系统,用于在生产工艺中对较薄的镀层如 CIGS、CIS 或 CdTe 进行连续的在线测量和分析


校准标准片 X射线测厚仪专用校准标准片


WinFTM 软件 适用于所有 FISCHERSCOPE X-RAY 型 X射线荧光测量系统的软件


以上都是FISCHER X-RAY系列X射线荧光测厚仪推荐。XRAY(即X射线)荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。X射线测厚仪、X射线荧光法、XRAY测厚测量系统。

  X射线测厚仪原理

  XRAY测厚仪原理是根据XRAY穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的,即测量被测钢板所吸收的X射线量,根据该X射线的能量值,确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号,经过前置放大器放大,再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。

  X射线测厚仪适用范围

  XRAY测厚仪适用于生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业,可以与轧机配套,应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中,XRAY测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。


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