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XAVU镀层测厚仪

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  • 公司名称江苏一六仪器有限公司
  • 品       牌
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  • 所  在  地
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2022/10/27 11:04:45
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江苏一六仪器有限公司坐落于苏州昆山市,是一家专注于光谱分析仪器研发、生产的。 公司的研发团队与海内外专家通力合作,开创了基于Alpha系数和FP算法的第三代核心算法-多元迭代EFP核心算法,开发了高均值聚集光源的微光聚集技术,在微小面积、异形高低面探测、多层多元素与多层同元素的检测上,都具备更佳的表现。公司现有专用高性能X荧光测厚仪、多功能全自动X荧光测厚仪、多用途全性能X荧光光谱仪、真空腔体X荧光光谱仪等多个系列几十种型号仪器,可广泛的应用于涂镀层、粮食、地质地矿、电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子、等制造领域。 *的技术,专业的团队,严格的企业管理是公司得以不断发展壮大、产品能够赢得客户信赖的根本所在。 各种涂镀层,成分分析的检测难题欢迎咨询联系!
测量面积:最小0.002mm²镀层分析:23层镀层24种元素仪器特点:可变焦对焦仪器优势:同元素不同层分析:服务宗旨:一六仪器,品质
XAVU镀层测厚仪 产品信息

XAVU系列能量色散X荧光光谱分析仪,是一款配备SDD探测器的高效率光谱分析仪!


此款产品可适用于固体和液体的含量检测,用于液体中高含量金属成分的检测,满足高测试精度和高准确度。

搭配微聚焦X射线发生器和*的光路转换聚焦系统,以及高敏变焦测距装置,可测试极微小和异形样品。

含量分析检出限1ppm,可检测镀层厚度0.005um ,最小测量面积0.04mm² · 凹槽深度测量范围可达0至30mm,特殊要求可达90mm。

外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样品移动,移动精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,再小再多的样品测试都可轻松操作。


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技术参数:
1.探测器:半导体冷却硅漂移SDD探测器

2.探测器分辨率:130±5ev 

3.涂镀层分析范围:各种元素及有机物
4.可一次性同时分析:23层镀层,24种元素
5.最小测量面积:0.04mm²
6.对焦距离:0-30mm,特殊要求可达90mm
7.样品腔尺寸:500mm×360mm×215mm
8.仪器尺寸:550mm×480mm×470mm

9.仪器重量:45kg

仪器配置:
1.微焦X射线发生器
2.光路转换聚焦系统
3.高敏变焦测距装置
4.半导体冷却硅漂移SDD探测器
5.*的数字多道分析
6.高精度微型移动滑轨
7.标准片Ni/Fe 5um
8.标准片Au/Ni/Cu 0.1um/2um



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