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高精度冷镜式露点仪 – Michell S8000 -100

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  • 公司名称密析尔仪表(上海)有限公司
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  • 厂商性质其他
  • 更新时间2022/12/7 12:18:50
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密析尔仪表(上海)有限公司为PST集团在中国的分公司,负责旗下密析尔,罗卓尼克,恩特龙,AII,SST等品牌在中国的推广。公司致力于为要求严苛的终端市场提供的测量精确的氧、露点、温度、湿度等传感器、分析仪,并可提供OEM产品定制。产品应用范围广泛,如制药/生命科学、特种气体、半导体、石油天然气、石油化工、电力、气体检测、食品饮料、楼宇管理等领域。

我们的业务

食品、药品、半导体和数以千计制成品的质量取决于生产、储存和运输过程中对关键参数(如湿度、氧气、一氧化碳、N2、H2、碳氢化合物、压力或二氧化碳)的可靠测量。我们的产品可直接提高客户的盈利能力,并帮助他们符合严格的行业法规要求。我们拥有并生产我们大部分产品所使用的传感技术。这使我们保持强大的,并将我们的创新利益传递给客户。

特点 精度 ±0.1 °C可精确测量至 -100 °C 露点 (13.8 ppbV),无需额外的冷却在 -100 °C 露点,重复性 ±0.15 °C 通过触摸屏界面进行简单配置和操作优化的传感器,对低湿度水平响应快速外部 4 线 Pt100 连接显微镜用于目视检测镜面上的冷凝物紧凑的19” x 4U 组件,安装灵活以太网或USB连接SD卡记录数据
高精度冷镜式露点仪 – Michell S8000 -100 产品信息


S8000 -100 露点仪直接测量镜面上冷凝的形成,具有-100...+20 °C 霜点/露点的宽泛测量范围。 它采用了的*双光学系统,可以检测镜面上凝结水分的细微变化。这带来了高度灵敏性和对露点变化的快速反应,即使在测量挑战性的非常低的露点水平下也是如此。系统自动控制,意味着无需操作员干预。该仪器提供一系列的Modbus数字通信,以及模拟输出允许远程监测或通过特定的S8000 -100 记录软件监测。后面板上提供4线Pt100 连接,用于远程镜面温度监测。高对比度的触摸屏LCD显示器,提供可定制的测量值本地指示,以及趋势图和故障警告。

露点传感器
量程 -100...+20 °C 霜点/露点
精度* ±0.1 °C
重复性 @ -100 °Cfp ±0.15 °C
稳定性 @ -100 °Cfp ±0.1 °C
响应速度 <2hrs 至="" ±0.25="" °c="" 稳定="" @-90="">
<6hrs 至="" ±0.25="" °c="" 稳定="" @-100="">
温度相关性 @ -100 °C ±0.15 °Cfp 每 1 °C 环境温度变化
镜面 镀金铜
温度测量 4 线 Pt100, 1/10 DIN B 级
样气流速 500...1000 ml/min (建议 750 ml/min)
样气压力 1.6 bara
压力传感器
量程 0...1.6 bara
精度 精度 0.25% FS 通常热误差 1.5% FS 通常漂移
0.2% FS/p.a 非累积温度补偿 -20 °C...+80 °C
流量传感器
量程 0...1000ml/min
精度 ±1.5% FS (10...99% 额定流量)
监测器
分辨率 用户可选择至 0.001 °C,取决于参数
测量单位 °C 露点/霜点,°C 温度,ml/min 流量,bara 压力
计算单位 相对湿度 – %,湿度 – g/ m3,ppmV,混合比 – g/kg,湿球温度 (Twb) – °C,°F,水蒸气压 (wvp) – Pa,压力换算 DP – °C,°F,压力 – kPa,Barg,Psia,Psig
输出 模拟: 2x 有源 mA 输出,可配置 0...20 mA 或 4...20 mA
数字: Modbus RTU 基于 USB
可选: Modbus RTU 基于 RS485/RS232, Modbus TCP 基于以太网
报警: 1x 过程继电器
1x 报警继电器
都是 C 型, 1 A, 30 V DC
用户界面 5.7" LCD 触控屏
数据记录 SD 卡 ( 提供 8GB) 和 USB 接口。支持 SD 卡 (FAT-32) – 32 GB 。允许记录 2400 万个日志或 560 天,2 秒记录间隔
环境条件 +5 °C...+30 °C
电源 85...264 V AC
功耗 185 VA
机械参数
尺寸 (W x H x D) 440 mm x 185 mm x 515 mm
重量 22 kg
样气连接 进口: ¼" VCR
出口: ¼" Swagelok 管接头
其他
可选远程温度探头 4 线 Pt100, 1/10 DIN B 级, 2m 电缆
校准 5 个点 UKAS 校准至 -90 °Cfp , -100 °Cfp


* 测量精度指的是被测仪器和校正基准之间的偏差。校准系统相关的不确定性 及检测和后续使用期间的环境条件也需考虑。
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