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双折射成像系统
特性
Ø内置波长为633 nm的光源
Ø所测样品相位延迟**为半波长(316 nm)，方位角范围为±90°
ØØ20 mm的视场
Ø完整的成像系统包含软件和笔记本电脑
Ø兼容MLS203-1
XY扫描位移台
Ø定制工作波长可联系技术支持
Thorlabs的LCC7201双折射成像系统用于学术研究、医疗诊断、工业制造和产品质量保证，可以测量晶体和液晶设备等平整的平面样品的相位延迟和方位角，非常适合检测由应力引起的双折射特性。由于该系统基于液晶器件，其内部没有相对机械运动，从而在运行过程中非常稳定，毫无振动干扰。
LCC7201工作的波长为633 nm，提供Ø20 mm的视场。该系统所测相位延迟范围**为半波长(316 nm)，方位角范围为±90°。此外，还可以定制波长范围从405 nm到810 nm的工作波长。欲定制此类工作波长，请联系技术支持。
在观察样品方面，LCC7201包含我们公司的MLS203P2样品支架，同时还包含三个样品支架插入件，分别可以固定Ø0.5英寸、 Ø1英寸和2英寸 x 2英寸的光学元件。MLS203P2在X方向上可以实现手动调节，适用于比Ø20 mm视场大的样品。此外，该系统还兼容Thorlabs的MLS203-1
XY扫描位移台（提供X轴和Y轴方向的手动调节和电动调节），升级之后的版本可以扫描更大的样品。LCC7201的规格如右表所示。
购买时附带软件预先装好的Windows®笔记本电脑。想要了解其他有关这个系统的软件特性和样品测量结果的信息，请查看上面的软件标签。
Specifications | |
Light Source Wavelengtha | 633 nm |
Retardance Measurement Range | Standard Retardance Range: |
Azimuth Measurement Range | ±90° |
Retardance Measurement Accuracy | Standard Retardance Range: < ±10 nm |
Azimuth Measurement Accuracy | Standard Retardance Range: < ±3° |
Measurement Rateb | < 15 s |
Field of View | Ø20 mm |
Spatial Resolution | 9.77 μm |
Interfaces | USB 2.0 and Gigabit Ethernet |
Camera Resolution | 2048 x 2048 Pixels |
Dimensions | 500.0 mm (D) x 360.0 mm (W) x 672.0 mm (H) |
Weight | 26 kg (57.3 lbs) |
Operating Temperature | 0 to 40 |
Storage Temperature | -15 to 65 |
Included Accessories | Laptop PC, Sample Holders, |
a
可按需求定制。详情请联系技术支持。
b
默认相机设置时的性能。
双折射成像系统
产品型号 - 公英制通用 | ||
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