测试模式:
- 单点光谱采集
- 二维表面mapping测量
- 三维共焦成像与深度分析
- 时间分辨光谱测量
产品主要参数:
- 研究级光学显微镜,CCD相机进行样品成像观测
- 手动/自动XYZ样品台
- 多种激光器,光谱仪以及探测器选项
产品优势:
- 灵活,高度定制化,以满足不同应用的特殊需求
- 紧凑的光路设计信号收集效率,快速获得测试结果
- 操作简便,无需复杂的测试流程及培训,轻松上手
- 扩展性强,具备明暗场,偏正,时间分辨等各种附件的升级通道
主要技术指标