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激光椭圆偏振测厚仪 型号:TP-Y-I 金洋万达
仪器介绍：
椭圆偏振测厚仪采用消光法手动调节，自动测量薄膜厚度和折射率，精度高、灵敏度高、方便测量。光源采用氦氖激光器，功率稳定、波长精度高。仪器软件具有生成表、查表以及计算等功能，方便用户使用。
技术参数：
| 测量范围 | 薄膜厚度范围：1nm-300nm；折射率范围：1-10 |
| 测量厚度示值（nm） | ≤1 |
| 偏振器方位角范围 | 0°- 180°读取分辨率为0.05° |
| 测量膜厚精度（nm） | ±1 |
| 折射率重复性精度 | ±0.01 |
| 入射角调节范围 | 20°～90°精度为0.05° |
| 入射光波长（nm） | 632.8 |
| 光学中心高（mm） | 80 |
| 允许样品尺寸（mm） | φ10-φ140，厚度≤15 |
| 外形尺寸（mm） | 590*390*290 |
| 主机重量（kg） | 25 |
配置清单：
椭圆偏振测厚仪主机 1台
主机电控箱 1套
二氧化硅膜样片 1片
椭圆偏振测厚仪软件 1套
选配：计算机及打印机 1套
公司承诺：质量服务承诺：
1.质保期一年，终生免费维护。
2.在质保期内，除人为因素外，任何因仪器设计、材料或工艺不当引起的缺陷、故障我们免费修理或更换。
3.接到用户通知所提供的仪器出现故障后，十分钟内回应.
4.保证及时向用户以优惠的价格提供所需的备品备件和易
