Panametrics MG2-DL奥林巴斯超声波测厚仪
【数字超声波测厚仪技术参数】
规格MG2MG2-XTMG2-DL
显示屏液晶显示(带背光) 液晶显示(带背光) 液晶显示(带背光)
测量范围0.5---635毫米0.5---635毫米0.5---635毫米
声速范围0.762-13,999毫米/μsec 0.762-13,999毫米/μsec 0.762-13,999毫米/μsec
显示精度0.1/0.01毫米 0.1/0.01毫米 0.1/0.01毫米
冻结模式有有 有
显示保留/空白有有 有
/最小值有有 有
探头自动识别有有 有
零位补偿有有 有
测量速度2点/秒;20点/秒 2点/秒;20点/秒 2点/秒;20点/秒
工作温度-10-50℃ -10-50℃ -10-50℃
测量温度-20-500℃ -20-500℃ -20-500℃
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