电感耦合等离子体发射光谱质谱联用仪NexION 2000 ICP-MS

电感耦合等离子体发射光谱质谱联用仪NexION 2000 ICP-MS

兼具三重四极杆的强大能力与单四极杆灵活性的结合

技术决定性能

一台几乎无需维护的ICP-MS

新一代无需维护或更换的射频（RF）线圈设计，的实现对离子牢牢控制从而实现最干净质谱分析系统的设计，使NexION 2000避免了几乎所有的维护要求。

LumiCoil TM 技术 – 革命性的，全新的RF线圈设计，等离子体耦合效率更高，无需水冷或气冷，寿命更长。

三锥接口（Triple Cone Interface）– 的超锥设计，实现业界离子束。三锥位于真空腔外，维护快速简单。

四极杆离子偏转器（Quadrupole Ion Deflector）– 实现离子束90度偏转后进入通用池（Universal Cell ），过滤不带电物质，减少背景和干扰，从而实现更准确结果。

的三锥接口（Triple Cone Interface ）和四极杆离子偏转器（Quadrupole Ion Deflector）结合，实现离子束的高效控制与聚焦，使NexION 2000的碰撞反应池系统免除了所有的清洗或维护需求。

每次分析，获得更佳工作效率

与其他ICP-MS系统不同，NexION 2000具有电子稀释技术（EDR）,可以让您调谐离子传输，从而在一次样品运行时，实现高低含量同时分析。这扩大您的分析动态线性范围至12数量级，优化了您工作效率的同时保护了检测器的使用寿命。

为获得更好的准确性和更低的检出限，反应池模式下的动态带宽调谐技术（Dynamic Bandpass Tuning）使您可以调整离子质量带宽，高效去除干扰物母离子的同时将分析物离子的传输效率较大化。

NexION 2000具有功能强大的针对不同干扰的工作模式，预置的分析方法让您轻松应对各类分析挑战。

无惧基体，表现优异

NexION 2000 强大的全基体进样系统（AMS），无需手动稀释，实现高固体溶解含量样品分析。全基体进样系统（AMS）智能稀释您的样品，让您在保持分析高固体溶解含量样品的灵活性同时仍能分析高低含量元素，减少样品重复分析。

PerkinElmer技术专家们为NexION 2000打造的全固态、自激式射频发生器提供更稳定的等离子体，仪器的耐受性得到进一步加强。新一代的革命性LumiCoil工作线圈技术实现高效等离子体耦合，且无需水冷或气冷，使用寿命超长。

日常检测更轻松

ICP-MS配备的Syngistix™软件使得再复杂的样品分析也变得简单易行。本着符合日常分析流程的设计理念，软件操作界面非常直观，有着从左到右、图标化的全过程向导，将从仪器开机、方法开发到数据报告等每一步都进行了简化。