OLYMPUS GX53倒置 金相显微镜

快速分析较厚的大尺寸样品材料

专为钢铁、汽车、电子和其他制造行业设计的GX53倒置金相显微镜能够提供传统显微镜观察方法难以获得的清晰图像。
在配合奥林巴斯Stream图像分析软件使用情况下，该显微镜可让从观察到图像分析及报告的整个检测流程变得更加顺畅。

检测快捷，功能*

快速观察、测量和分析金相组织。

*的分析工具
1. 采用组合观察方法获得出色图像
2. 轻松生成全景图像
3. 生成全聚焦图像
4. 采集明亮区域和暗光区域 

针对材料学的优化
1. 专为材料科学而设计的软件
2. 符合行业标准要求的金相分析 

人性化
即便新手操作员也能够轻松完成样品观察、结果分析/报告创建。
1. 轻松恢复显微镜设置
2. 用户指导让上等分析变得更加简单
3. 高效的报告创建 

*的成像技术
我们成熟可靠的光学器件和成像技术能够提供清晰的图像和可靠的检测结果。
1. 可靠的光学性能：波前像差控制
2. 清晰的图像：图像阴影校正
3. 一致的色温：高强度白光LED照明
4. **测量：自动校准 

模块化
根据您的应用要求选择所需的组件。
1. 打造专属于您的系统：利用各种选配组件获得**定制的系统 

                                                         明场              
                                                         衬底层和通孔不可见。

暗场                                                   
痕迹不可见。                    

MIX: 明场+暗场                           
所有组件均可清晰呈现。

                                                       明场
                                                       纹理无法观察。

暗场象限
色彩信息被去除。

MIX: 明场+暗场象限
材料色彩和纹理均可观察

金板

                某些部位存在眩光。                                                                                       暗光区域和明亮区域利用HDR获得清晰呈现。 

铬扩散涂层

                 对比度低且不清晰。                                                                                                      利用HDR增强对比度。 

                       明场                                                                                                                         暗场  
明场：一种观察直接照射样品反射光的常见观察方法。
暗场：可观察样品的散射或衍射光线，因此诸如微小划痕或瑕疵等缺陷非常明显。

球墨铸铁（明场 / DIC）

                             明场                                                                                                                   DIC观察  
微分干涉相差显微技术(DIC)：一种将样品高度以类似提高了对比度的3D图像，呈现出浮雕效果的观察技术；其非常适用于观察金相结构和矿物等具有极其细微高度差的样品。

铝合金（明场/偏光）

                     明场                                                                                                                    偏光观察  
偏光：一种能够突出材料纹理和晶体状态的观察技术，用于观察诸如球墨铸铁的石墨生长类型等金相结构和矿物。

电子组件（明场/ MIX观察）

                     明场                                                                                                               MIX: 明场+暗场  
MIX观察：将明场和暗场相结合，样品的颜色和结构均可观察。
上面的MIX观察图像清晰再现了该组件的颜色和纹理以及粘合剂层的状况。

光学系统 光学系统

UIS2光学系统(无限远校正系统)

显微镜镜架

反射光照明

通过反射镜单元进行手动明场/暗场选择 
带有调中功能的手动视场光阑/孔径光阑切换 
光源：白光LED（带光强度控制器）/12 V，100瓦卤素灯/ 100瓦水银灯/光导 
观察模式：明场、暗场、微分干涉相衬（DIC）*1、简易偏光 *1、MIX观察（4个定向暗场）*2
* 1该观察方法需要是用专用插片。*2 需要使用MIX观察配置。

标尺印记

所有端口与透过目镜所见观察位置的反向位置(上/下）

前端口输出(选配) 

相机和DP系统(倒像, GX专用相机适配器) 

侧端口输出(选配) 

相机, DP系统(正像) 

电气系统

反射光照明 
用于反射光照明的内置LED电源 
连续可变光强度控制盘 
输入额定值5 V DC，2.5 A（交流适配器100-240 V，AC 0.4 A，50 Hz/60 Hz） 
透射光照明（需要可选的BX3M-PSLED电源） 
电压式连续可变光强度控制盘 
输入额定值5 V DC，2.5 A（交流适配器100-240 V，AC 0.4 A，50 Hz/60 Hz） 
外部接口（需要使用选配BX3M- CBFM控制盒） 
编码物镜转换器连接器×1 
MIX插片（U-MIXR）连接器×1 
手控操作器（BX3M-HS）连接器×1 
手控操作器（U-HSEXP）连接器×1 
RS-232C连接器×1，USB 2.0连接器×1

聚焦

带有滚轮导轨的齿轮齿条 
手动、粗调和精调同轴手柄; 对焦行程9毫米(2毫米在载物台平面以上7毫米在载物台行程以下) 
微调手柄每转行程: 100微米 (最小刻度: 1微米) 
 粗调手柄每转行程: 7毫米 
 配粗调焦扭矩调节环 
 配粗调焦上限止动销

镜筒

宽视场(FN 22)

倒置: 双目镜(U-BI90, U-BI90CT), 三目镜(U-TR30H-2), 可倾斜双目镜 (U-TBI90) 

物镜转换器

明场孔: 4至7个, 类型: 手动/编码,对中: 启用/禁用 
明场/暗场孔: 5至6个, 类型: 手动/编码,对中: 启用/禁用

载物台

GX右手载物台(X/Y行程: 50 × 50毫米, 载荷5公斤) 
活动式右手柄载物台, 左手短手柄载物台(各自X/Y行程: 50×50毫米，载荷1公斤） 
滑动载物台（载荷1公斤） 
一套水滴型和长孔型

重量

约25公斤 (显微镜架20公斤) 

环境

·室内使用 
·环境温度：5至40°C（45至100°F） 
·相对湿度：温度31 °C (88 °F)以内时80% (无冷凝) 
如若超出31 °C (88 °F), 34 °C (93 °F)时相对湿度线性下降到70%，37 °C (99 °F)时下降到60%，40 °C (104 °F)时下降到50% 
·污染等级：2（符合IEC60664-1要求） 
·安装/过压分类：II类（符合IEC60664-1要求） 
·电源电压波动：±10 %