胶粘剂介电常数介质损耗测试仪技术参数:
项目/型号 | ZJD-B | ZJD-A | ZJD-C |
信号源 | DDS数字合成信号 | ||
频率范围 | 10KHZ-70MHZ | 10KHZ-110MHZ | 100KHZ-160MHZ |
信号源频率覆盖比 | 7000:1 | 11000:1 | 16000:1 |
采样精度 | 11BIT | 12BIT | |
信号源频率精度 | 3×10-5 ±1个字,6位有效数 | ||
Q值测量范围 | 1~1000自动/手动量程 | ||
Q值量程分档 | 30、100、300、1000、自动换档或手动换档 | ||
Q分辨率 | 4位有效数,分辨率0.1 | ||
Q测量工作误差 | <5% | ||
电感测量范围 | 1nH~8.4H,;分辨率0.1 | 1nH~140mH;分辨率0.1 | |
电感测量误差 | <3% | ||
电容直接测量范围 | 1pF~2.5uF | 1pF~25uF | |
调谐电容误差分辨率 | ±1pF或<1% | ||
主电容调节范围 | 30~540pF | 17~240pF | |
谐振点搜索 | 自动扫描 | ||
自身残余电感扣除功能 | 有 | ||
大电容值直接显示功能 | 有 | ||
介质损耗直读功能 | 有 | ||
介质损耗系数精度 | 万分之一 | ||
介质损耗测试范围 | 0.0001-1 | ||
介电常数直读功能 | 有 | ||
介电常数精度 | 千分之一 | ||
介电常数测试范围 | 0-1000 | ||
LCD显示参数 | F,L,C,Q,LT,CT,波段等 | ||
准确度 | 150pF以下±1pF;150pF以上±1% | ||
Q合格预置范围 | 5~1000声光提示 | ||
环境温度 | 0℃~+40℃ | ||
消耗功率 | 约25W | ||
电源 | 220V±22V,50Hz±2.5Hz | ||
极片尺寸 | 38mm/50mm(二选一) | ||
极片间距可调范围 | ≥15mm | ||
材料测试厚度 | 0.1-10mm | ||
夹具插头间距 | 25mm±0.01mm | ||
夹具损耗正切值 | ≤4×10-4 (1MHz) | ||
测微杆分辨率 | 0.001mm | ||
测试极片 | 材料测量直径Φ38mm/50mm,厚度可调 ≥ 15mm |
胶粘剂介电常数介质损耗测试仪满足标准:
《JJG563-2004高压电容电桥检定规程》
《JB1811-92压缩气体标准电容器》
《GB1409-2016固体绝缘材料相对介电常数和介质损耗因数的试验方法》
《ASTM D150固体电绝缘材料的交流损耗特性及介电常数的试验方法》
《IEC 60250测定电气绝缘材料在工频、音频、射频(包括米波长)下电容率和电介质损耗因数的推荐方法》
介电损耗的形式
电介质在电场作用下,内部通过的电流包括:
〔1〕电容电流:由样品的几何电容充电引起电流〔位移电流〕;
〔2〕吸收电流:由松弛极化引起,是介质在交变电压作用下引起介质损耗的主要来源;
〔3〕漏电电流:由介质电导引起,与自由电荷有关,使介质产生电导损耗。
电介质在电场作用下具体损耗的能量主要包括:
⑴极化损耗:在外电场中各种介质极化的建立引起了电流,此电流与极化松弛等有关,引起的损耗称为极化损耗。
⑵电导损耗:在电场作用下,导电载流子做定向漂移,形成传导电流,电流大小由介质本身性质决定,这局部传导电流以热的形式消耗掉,称之为电导损耗。
⑶电离损耗和构造损耗
介电性能的测量方法
依据所测量的根本原理可分为三大类①电桥法②谐振回路法③阻抗矢量法
电桥法
测量范围:~150MHZ
测量原理:根据电桥平衡时两对边阻抗乘积相等,从而来确定被测电容器或介质材料试样的CX和tanX。
谐振回路法
测量范围:40KHZ~200MHZ
测量原理:依据谐振回路的谐振特性进展测量的。根据谐振时角频率ω与回路的电感、电容之间的特定关系式,求得Cx和tanδX。
阻抗矢量法
测量范围:~200MHZ
测量原理:通过矢量电压一电流的比值的测量来确定复阻抗的,进而获得网络、元件或材料的有关参数。
介电性能测试内容主要包括
⑴绝缘电阻率
⑵相对介电常数
⑶介质损耗角正切
⑷击穿电场强度
绝缘电阻率测试
绝缘电阻率测试通常采用三电极系统,可以分别测出试样的体积电阻率ρv和外表电阻率ρs,测量电路图如以下图所示。
体积电阻率测试线路图
外表电阻测量线路图
平板试样
管状试样
电极材料可用粘贴铝箔、导电橡皮、真空镀铝、胶体石墨等
相对介电常数〔εr〕测试
相对介电常数通常是通过测量试样与电极组成的电容、试样厚度和电极尺寸求得。
平板试样
管状试样
介质损耗角正切〔tanδ)的测定
通过测量试样的等效参数经计算求得,也可在仪器上直接读取。
工频、音频下一般都采用电桥法测量,高电压时采用西林电桥法。
西林电桥法
电桥平衡时
CN→标准电容
C4→可调电容
R4→固定电阻
R3→可调电阻
当频率为几十千赫到几百兆赫范围时,可用集总参数的谐振法进展测量,如下图