x-ray膜厚仪_金东霖

x-ray膜厚仪_金东霖对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。
传统的楔切法，光截法，电解法，都是有损检测。而X射线它采用非接触式穿透测量法，既不会伤害材料，更不会受板型、现场条件、洁净度等因素的影响。并且测量稳定、准确还可以对大部分磁性或非磁性材料进行测量。 

x-ray膜厚仪_金东霖整体描述：    
美国BOWMAN X-RAY 設備遵循ASTM B568， DIN 50 987和ISO 3497 等國家和國際標準，主要基於鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統。採用全新數學計算方法,採用的FP (Fundamental Parameter）強大的電腦功能 來進行鍍層厚度的計算，在加強的軟體功能之下，簡化了測量比較複雜鍍層的程式。
（1）、配置硬件革新：
   采用半导体接收器，分辨率较传统品牌比例接收品提高数倍,较传统X-RAY精确度提高了50%以上，   在测试薄金（Au)方面表现更为突出。
（2）、超常保固期：2年（24个月），较其它品牌整机延长一倍；
（3）、前沿的测量技术：所有产品均为美国*，
       超低的售价：相对于其它品牌同档次的机型售价降低了50%