OBLF火花光谱仪VeOS

VeOS 是一款配备基于半导体检测器系统的火花光谱仪，其分析性能（包括实验室光谱仪所需的光谱分辨率）与已建立的基于光电倍增管的系统一样好。这种全新的光电探测器技术专为火花发射光谱而开发，可确保在 130 至 800 nm 的整个所需波长范围内获得准确的结果。 光敏探测器的设计特点是其表面的光敏度是传统系统中探测器的 100 倍，专门针对发射光谱的要求进行了调整。因此，这是一款提供光谱灵敏度和光谱分辨率的组合以及创新设计的设备，既保证了 OBLF 的的质量，又保证了大的使用灵活性。

• 完整而灵活地包含所有分析任务
• 易于扩展的功能
• 新的、专门开发的检测器技术
• 在检出限、准确度、稳定性方面表现良好
• 坚固耐用的设计，适用于重载环境
• 全面的多矩阵应用选项，没有任何限制
• 关于选择分析元素
• 准确检测 N 和痕量碳 (ULC)

• 光学系统：

Paschen-Runge 阵容

温度稳定在 +5°C

分辨率 7 pm/Pixel（50 pm/Pixel 碱性光学）

波长范围 130 - 680/780 nm

三种固态探测器

优化 OES 的像素区域

由于背面照明，对短波长的灵敏度高

• 电子

每个像素的 16 位 AD 转换

DSP 处理器控制的传感器读数

连接光谱仪 PC 的 USB 接口

• 电源供应：

230V; 50/60 Hz; 1,5 kVA

待机模式下 300 W

• 环境条件

工作温度：10 – 40 ºC

尺寸和重量

宽度：74 cm

高度：134 cm

深度：115 cm

重量：约 300 kg