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分体式两用涂层测厚仪AT-280

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  • 公司名称宁波科诚仪器有限公司
  • 品       牌
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  • 所  在  地
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2023/7/15 8:49:29
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一、色彩类:
彩谱CS-10/CS-200/CS-210/220/260/CS-280色差仪,彩谱CS-580/600/610/CS-650/660分光测色仪,彩谱CS-800/801/810/820/CS-820N台式分光测色仪,TH-100/CS-700/CS-720雾度计透过率,彩谱CS-300/CS-380光泽度计,美能达CR-10plus色差仪/CM-2300d/CM-2500d/CM-2500c/CM-700d/CR-400/X-rite爱色丽SP60/SP64/Ci60/62/64分光光度仪,Ci7600/7800台式分光光度仪,对色灯箱T60(4)/T60(5)/T60+/P60(6)/P60+。
二、管道测漏仪:
机械听漏棒JT-TL/HC202,电子听漏棒JT-TLD,漏水检测仪JT-2000/HC51/HC52,数字滤波漏水检测仪JT-3000,手持数字泄漏检测仪JT-SC01/HC61,智能数字漏水检测仪JT-5000/HC802,全智能数字漏水检测仪JT-1A/3Ax等。
三、铁损测试仪:
硅钢片铁损测量仪ATS-101M/201M,DAC-IR-2C/SK-IR-3S,TCIL-1A/TCIL-2A/3A等。
四、漆包线检测:
漆膜连续性试验仪ZGQ-16B,针孔试验仪FTS-30,回弹角试验仪HTJ-16B,卷绕试验仪JR-16,软化击穿试验仪RJ-20,伸长率试验仪SC-5/A,单向刮漆试验仪ZDG-25,电压试验仪ZDS-50B等。
五、激光测径仪:
手持式:LDM-01HA/B,LDM-02HA/B,小台式:LDM-01A/B,LDM-02A/B,标准台式:LDM-10A/B,LDM-30A/B,LDM-60A/B,LDM-90A/B,LDM-25/LDM-50,一体型:LDM-10I,LDM-30I,LDM-60I,双向:LDM-10A/BXY,LDM-25A/BXY,LDM-50A/BXY,LDM60XY等。
六、环境类:
盐雾试验机,高低温试验箱,紫外线老化试验箱,氙灯老化试验箱,振动试验台等。
七、常规检测:
影像仪投影仪,三坐标测量机,轮廓仪,圆度仪,圆柱度仪,拉力试验机,测厚仪,里氏/洛氏/维氏/显微/布氏硬度计;粗糙度仪,测振仪,推拉力计,扭力测试仪,气动量仪,干燥箱等。
品牌:艾力 加工定制:否 型号:AT-280 类型:镀层 测量范围:1.25 mm显示方式:数字式 电源电压:2*1.5 V
分体式两用涂层测厚仪AT-280 产品信息

分体式两用涂层测厚仪AT-280

分体式两用涂层测厚仪AT-280的产品概述:
·分体式两用涂层测厚仪AT-280,采用磁性、涡流两种测厚方法,可无损伤地检测磁性金属基铁(如:铁、钢、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如:锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)。
·本仪器广泛地应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域,是材料保护*的仪器。
分体式两用涂层测厚仪AT-280的工作原理:
·磁性法当测头与覆层接触时,测头与磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆层的存在,使磁路磁阻发生变化,通过测量其变化量,可测得其覆层的厚度。
·涡流法利用高频交变电流线圈中产生一磁场,当测头与金属接触时,金属基体上会产生涡流,并对测头具有反馈作用,通过其反馈作用的大小可测出覆层厚度。
分体式两用涂层测厚仪AT-280的产品特点:
·便携设计,手掌大小
·采用高速的DSP芯片,具有快速的测量能力
·人性化设计,简单操作。
·在双用探头时自动识别铁基和非铁基材质,无需手动转换
·两种校准方式,零点校准和二点校准
·宽角度LCD液晶显示
·公制和英制单位转换
·具有电源欠电压提示
·操作过程有蜂鸣声提示
·具有自动关机功能
分体式两用涂层测厚仪AT-280的技术参数:
·测量范围:0~1250µm。
·低限分辨力:1µm(100um以下为0.1um)。
·示值误差:零点校准:±(1.5+3%H) µm。
·两点校准:±[(1%~3%)H+1.5] µm。
·测量条件:*小曲率:凸5mm、凹5mm。
·基体*小面积的直径:Ф10mm。
·*小临界厚度:0.4mm。
·环境温度:0~40℃。
·相对湿度:≤85%RH。
·关机方式:自动。
·电源:两节五号电池。
·外形尺寸:102×62×28mm。
·重量:99g(含电池)。
分体式两用涂层测厚仪AT-280测量时注意事项:
基体金属特性:
·对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
·对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。
·基体金属厚度:检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,进行校准后,可以测量。
·边缘效应:不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。
·曲率:不应在试件的弯曲表面上测量。
·读数次数:通常由于仪器的每次读数并不相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。
·表面清洁度:测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质。
·磁场:周围各种电气设备所产生的磁场会严重干扰磁性测厚工作
·测头取向:测头的放置方式对测量有影响,在测量时应该与工件保持垂直
分体式两用涂层测厚仪AT-280的标准配置:
·主机……一台
·标准片……四片
·基体……两块(F、NF型各一块)
·说明书……一份
·保修卡……一张
·合格证……一份

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