X荧光光谱仪

产品特点

1. 高性能高精度X荧光光谱仪（XRF）

2. 计算机 / MCA(多通道分析仪)

2048通道逐次近似计算法ADC（模拟数字转换器）

3. Multi Ray. 运用基本参数法（FP）软件，对样品进行精确的镀层厚度分析，可对镀液进行定量分析。

4. MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析

励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

线性模式进行薄膜镀层厚度测量

相对（比）模式  无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多镀层厚度同时测量

单镀层应用 [如：Cu/ABS等]

双镀层应用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

三镀层应用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]

四镀层应用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

合金镀层应 [如：Ni-Zn/Fe Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS等]

5. Multi-Ray. 快速、简单的定性分析的软件模块。可同时分析20种元素。半定量分析频谱比较、减法运算和配给。

Multi-Ray 金属行业精确定量分析软件。可同时分析8种元素。*小二乘法计算峰值反卷积。采用卢卡斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析。金属分析精度可达±0.02%，贵金属（8-24 Karat) 分析精度可达±0.05kt

Multi-Ray. 对镀液进行分析。采用不同的数学计算方法对镀液中的金属离子进行测定。含全元素、内部元素、矩阵校正模块。

6. Multi-Ray WINDOWS 7软件操作系统

7. 完整的统计函数均值、 标准差、 低/高读数，趋势线，Cp 和 Cpk 因素等

8. 自动移动平台，用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量,自动多点分析。每个阶段的文件有*多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。

产品优势

1. 镀层检测，检测层数范围1-6层；检测镀液的元素含量范围为1ppm－99.99%。

2. 全自动操作平台，平台移动范围可达160*160*100mm(X*Y*Z)；

3. 激光定位和自动多点测量功能；

4. 检测的样品可以为固体、液体或粉末；

5. 运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低；

6. 可进行未知标样扫描、无标样定性、半定量分析；

7. 操作简单、精准无损、高品质、高性能、高稳定性，快速检测（5-40秒依配置而定）；

8. 配置：SDD探测器、超长寿命X射线管、SPELLMAN高压电源，仪器使用寿命长。

9. 超高分辨率：125±5电子伏特（电子伏特越低分辨率越高，检测越精准，这是能谱仪一个非常关键的技术指标）；

10. 可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件；

11. 软件升级；

12. 无损检测，一次性购买标样可使用；

13. 使用安心无忧，售后服务响应时间24H以内，提供保姆式服务；

14. 环保RoHS分析功能，实现镀层、环保和成份分析同时检测；

15. 具有远程服务功能，在客户请求的情况下，可远程进行仪器维护；

16. RoHS规定的元素测试，待测物质的Sb/As/Se/Ba元素，卤素要求的Cl/Br元素，八大有害重金属：铅：Pb、汞：Hg、镉：Cd、锑：Sb、硒：Se、砷：As、钡：Ba、铬：Cr。