BC3193半导体分立器件测试系统
测试对象 测试参数
二极管及整流桥 BVR、IR、VF、VZ、RZ
三极管 BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、ICES、 ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、VCESAT
可控硅 BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、IH、IL、VGT、VT
场效应管 BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVDGS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、
IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS(on)、VDS(on)、VGS、VGS(th)、 VP、VGS(off) 等
测试原理符合《GJB 128 半导体分立器件试验方法》、《GJB 33A-97 半导体分立器件总规范》《SJ/Z 9014 半导体器件 分立器件》、《SJ 2215.1-82 半导体光耦器测试方法》等相应的国家标准、国家重要部门标准。
系统的人机界面有好,编程容易,软件能对用户输入的数据进行自动查错。系统软件可进行器件参数的分档、分类编程,并可实时显示和记录分档、分类测试结果,测试结果和统计结果均可以 EXCEL 格式存贮于计算机中,根据需要可以打印输出。
系统为模块化、开放式结构,具有升级扩展潜能。