产品|公司|采购|资讯

半导体分立器件测试仪

参考价 ¥ 10000
订货量 ≥1
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称北京励芯泰思特测试技术有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       号BC3193
  • 所  在  地北京市
  • 厂商性质生产厂家
  • 更新时间2023/11/3 14:08:45
  • 访问次数401
在线询价收藏产品 点击查看电话

联系我们时请说明是 智能制造网 上看到的信息,谢谢!


北京励芯泰思特测试技术有限公司是北京市中关村科技园区内的一家测试技术公司,集测试技术研究、开发、制造和销售的高科技公司。在国家重点科技攻关项目中达到国际水平的科技成果,打破了国外产品的垄断经营,完善了此类产品在国内的空白。


北京励芯泰思特测试技术有限公司前身为北京自动测试技术研究所,北京自动测试技术研究所隶属于北京市科学技术研究院,成立于1984 年,是经国家科委批准成立的国内专门从事集成电路测试技术研究、测试系统开发及销售和集成电路测试服务的专业研究所,是国家集成电路测试技术科技攻关项目的牵头单位。北京自动测试技术研究所自 2002 年以来,先后被政府有关主管部门认定为“集成电路产业孵化基地”、“集成电路测试技术研究中心”、“中关村集成电路测试中心”、“北京市科技研究开发机构”、“北京集成电路测试科技条件平台”等,是北京市科委优先认定的市级重点实验室以及是中国电子测量仪器行业协会副理事长单位。


公司生产研发人员是由研究员、高级工程师、研究生、大学本科生及专业测试人员组成,有一批从事 20 多年集成电路测试研究和开发的专业人才,有多名曾经在国外优秀测试公司工作和学习的学者。公司拥有国际水平的集成电路测试设备,并经常组织国内外测试技术方面的交流活动和技术培训,为国内客户提供了优质服务。


公司产品广泛应用于航空、航天、电子、船舶、兵器等重要部门的电子元器件筛选测试,保证了元器件应用的可靠性。同时,我们提供的设备在跨国公司和本地的电子生产线上也发挥着巨大的作用。


主要产品及服务: 1.半导体分立器件测试系统

                                  2.大功率 IGBT 测试系统

                                  3. 分立器件动态参数测试系统

                                  4. 分立器件特征参数测试系统

                                  5.模数混合集成电路测试系统  

                                  6.DC-DC 电源模块测试系统

                                  7. 固态继电器测试系统

                                  8. 电磁继电器测试系统

                                  9.光电耦合器测试系统

                                  10.热阻测试仪

                                  11.特征频率测试系统

                                  12.结电容测试系统

                                  13.电子元器件高低温在线测试系统

                                  14.  半导体分立器件测试服务

半导体分立器件测试仪,大功率分立器件测试仪,直流固态继电器测试仪,特征频率Ft测试系统
机器尺寸 56(宽)*82(深)*79(高)cm 程控高压源 2000V
程控高流源 200A
BC3193半导体分立器件测试系统是半导体参数测试的专用设备,用于半导体器件生产厂家进行圆片中测或封装成测,各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验可靠性分析测试。
测试系统用途及主要测试对象:二极管,三极管,可控硅,场效应管,(IGBT)绝缘栅双极三极管,达林顿矩阵,单结晶体管,光敏二极管,光敏三极管,光电耦合器,固态继电器等,DC/DC模块参数测试仪,MOS测试仪,三极管开关时间测试仪
半导体分立器件测试仪 产品信息

BC3193半导体分立器件测试系统

测试对象                    测试参数

二极管及整流桥          BVR、IR、VF、VZ、RZ

三极管                        BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、ICES、                                            ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、VCESAT

可控硅                        BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、IH、IL、VGT、VT

场效应管                     BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVDGS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、

IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS(on)、VDS(on)、VGS、VGS(th)、                                         VP、VGS(off)  等

测试原理符合《GJB 128 半导体分立器件试验方法》、《GJB 33A-97 半导体分立器件总规范》《SJ/Z 9014 半导体器件 分立器件》、《SJ 2215.1-82 半导体光耦器测试方法》等相应的国家标准、国家重要部门标准。

系统的人机界面有好,编程容易,软件能对用户输入的数据进行自动查错。系统软件可进行器件参数的分档、分类编程,并可实时显示和记录分档、分类测试结果,测试结果和统计结果均可以 EXCEL 格式存贮于计算机中,根据需要可以打印输出。

系统为模块化、开放式结构,具有升级扩展潜能。

b5dcd16a0828bcc683f560efb5b2610.png




同类产品推荐
在找 半导体分立器件测试仪 产品的人还在看
返回首页 产品对比

提示

×

*您想获取产品的资料:

以上可多选,勾选其他,可自行输入要求

个人信息:

Copyright gkzhan.com , all rights reserved

智能制造网-工业4.0时代智能制造领域“互联网+”服务平台

对比栏