LX3187高速光电耦合器自动测试系统可对器件测试结果进行编辑、存储和打印,测试原理符合相应的国家标 准、国家重要部门标准。测试系统适用于生产厂家进行封装成测,各类整机厂家、科研院所的质量检测部门 进行入厂检验和质量控制。
测试对象 :隔离数字光耦,线性光耦,高速光耦等,支持6单元器件测试。
测试参数 :测试参数包括光耦器件的交直流参数:VF、IR、CTR、VCESAT、ICEO、ΔICEO、tr、tf、tdon、 tdoff、GWP、增益、线性度等。测试速度平均值500uph(根据测试单元数量:加而时间延长)。
系统软件: 基于Windows XP和C++编程或菜单式编程;测试程序的调试非常方便,无论是单测试项的调试还是测试程序的整体调试,都可直接得出测试结果,免去了编译、连接之烦恼。可将测试结果直接保存到磁盘文件之中。具有测试器件Total和Pass计数器。系统软件主要特征:软件是一整合,直观,可视图形编辑环境,能在离线的测试系统从事开发与修改;系统提供可视配置编辑于C/C++语言编辑两种测试程序开发模式,使得开发更加自由和灵活;程序被强行中止时,可以即时检测测试机电源状态并自动关闭电源;数据实时记录,避免因测试故障丢失测试数据。