XT V 130和XT V 160X射线/CT检测系统

XT V 130和XT V 160X射线/CT检测系统

尼康XT V系列包括用于电子元件（PCB、BGA、芯片设计等）无损检测的X射线和CT检测系统。

XT V 130和XT V 160

XT V系统范围具有亚微米特征识别功能，可满足当今对复杂电子元件进行高性能、无损检测的需要。尼康Xi Nanotech X射线源与业平板探测器相配，可产高品质的图像质量，并在2D和3D检测之间实现无缝转换。

X射线源

尼康的Xi Nanotech X射线源，具备整体式发生器设计和160kV与20W功率的特点。

强大的图像增强功能

High.Contrast Filter 通过在单幅清晰图像中同时保证高低对比度区域的出色图像质量，从而揭示射线图像中的隐藏细节。操作员现在可以比以往更快地识别样品的各个方面，从而优化和提高效率

PCB分析套件

BGA、键合线、PTH和多层板上的PoP等复杂封装的高级测量和分析功能，具有自动通过/失败检测和报告功能。

斜角同心成像

斜角视场高达90°，360°样本旋转，借助智能软件和硬件保持感兴趣区域。

规格比较