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MS系列系统是Inframet主要测试系统，可测量多种红外整机系统：热像仪，可见光-近红外相机，短波红外相机、激光测距机和多传感器测试系统等，进行全面测试和轴对准的测试。
测试功能
1.不同视场适用波段：可见光，近红外，短波红外，中波红外和长波红外；
2.可测量多种红外整机系统：热像仪，可见光-近红外相机，短波红外相机、激光测距机和多传感器测试系统等；
3.可测量的重要参数如下
ü 最小可分辨温差MRTD | ü MTF | ü 信号传递函数SiTF |
ü NETD | ü FPN | ü 不均匀性non-uniformity |
ü 视场FOV | ü 畸变distortion | ü 放大倍率magnification |
ü 响应函数Response function | ü 3D Noise | ü 坏点Bad pixels |
ü PVF ü 信噪比SNR ü 三角方向鉴别TOD ü 噪声等效光通量密度NEFD | ü SRF ü 最小可探测温差MDTD ü 噪声等效反射率NER ü 噪声等效功率NEP | ü ATF ü 自动测量MRTD ü 噪声等效照度NEI ü 比探测率D* |
4.不同视场的红外热像仪的轴对准；
5.不同镜头焦距的可见光-近红外相机的轴对准；
6.可见光-近红外相机与红外热像仪之间的轴对准；
MS多波段整机测试系统测量不同系统的原理如下。
测试热像仪：图像投影仪投射图像到中波/长波范围热像仪，由计算机系统生成的图像分析被检测热像仪。高精度的离轴反射式CDT平行光管，TCB差分黑体，以及一组红外靶标用于投影。
测试可见光/NIR相机：可见光/NIR投影系统与图像分析计算机系统相结合来测量电视相机。包括CDT反射式平行光管，可见光/NIR光源，和一组可见光靶标；
一系列不同的辐射源可以用在投影系统中（光谱范围扩展到SWIR的光源或者MTB黑体）以及一系列SWIR用于投影系统中的靶标也可用于测量。
测量成像整机系统轴校准：电控的测试系统生成由被测试热像仪及相机生成的图像并计算两者之间的角度：
a) 热像仪在不同视场下的光轴；
b) 相机在不同镜头放大率下的光轴；
c)热像仪与相机之间的光轴。
激光系统轴对准：计算机控制的测量系统分析激光系统在激光敏感卡上生成的图像并计算光轴间的夹角：激光光轴（激光测距仪，激光指示器，激光照射器等）相对于成像系统光轴。注意：MS系统可以进行激光测距仪发射光轴的校准。这里假定激光测距仪发射光轴与接收已经调整好。这里可选测量激光测距仪的光轴对MS系统轴的能力。
测量SWIR相机：SIWR投影系统与图像分析计算机系统相结合来测量SIWR相机。它包括CDT反射式平行光管，SWIR光源，和一组SWIR靶标；
测量不同图像格式的热像仪：当采用模拟视频采集卡并且测量分辨率小于等于756×576的25Hz的视频图像时；也可以选择数字图像采集卡（Camera Link,或GigE，或LVDS，USB2.0）作为测量高分辨率高帧频的数字输出传感器。
产品参数
表1 MS测试系统配置参数
测试系统型号 | 平行光管口径 |
MS 100 | 100mm |
MS 150 | 150mm |
MS 200 | 200mm |
MS 250 | 250mm |
MS 300 | 300mm |
MS 320 | 320mm |
MS 350 | 350mm |
MS 400 | 400mm |
MS 450 | 450mm |
MS 500 | 500mm |
MS 600 | 600mm |
