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FCLIP 卡扣式融合成像器校轴仪

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  • 公司名称北京费恩科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地北京市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2024/4/16 14:19:40
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北京费恩科技有限公司位于北京经济技术开发区,是一家从事专业光电精密测量测试设备的代理商。产品源于美国、波兰、意大利等,涵盖了精密测量设备、成像系统测试设备及模块、诊断工具等,可提供高精度的测厚设备、紫外到远红外整个波段的成像测试系统、红外测量系统和探测器、夏克-哈特曼波前传感器等。我们的用户覆盖了各高校、科研院所、航空航天、各类光电企业等不同领域。费恩科技拥有专业的技术团队,不仅为用户提供各类标准产品,还可根据用户的具体需求,提供完整的系统解决方案。同时,我们还拥有优秀的售后技术支持团队,可及时为用户提供售后服务,包括安装、调试、培训、技术指导等工作。费恩科技秉承“一、客户至上、服务为先”的经营理念,带领专业技术团队,为广大用户提供各类光电检测设备及解决方案,用心开拓国内市场,为光电检测行业带来的技术和服务。
FCLIP卡扣式融合成像器校轴仪是一个计算机化的测试平台,用于测试卡扣式融合成像器、热像仪和夜视仪
FCLIP 卡扣式融合成像器校轴仪 产品信息

FCLIP卡扣式融合成像器校轴仪是一个计算机化的测试平台,用于测试卡扣式融合成像器、热像仪和夜视仪。FCLIP能够测量决定融合成像器的像移的几个校轴参数。

FCLIP校轴仪设计思路是将位于可变距离标准靶标投影到被测成像器的物方,然后分析两个成像通道产生的图像。具体投影图像由BTG宽带目标发生器产生,由CRI反射型平行光管投影到被测成像器上的物方。然后,用IM50可视相机采集图像并发送到计算机。最后利用软件进行图像分析。

FCLIP校轴仪是充分利用现代计算机技术成果的新一代测试平台。这种测量方法大大提高了校轴偏差的测量精度,缩短了测量时间,消除了人为的主观误差,实现了测试结果的保存。

该设备被认为是近乎标准的最终质量评测工具或制造/维修辅助工具。

 

FCLIP 是模块化系统,由以下模块组成:BTG 目标发生器,CRI760 离轴反射式光管,MP1913 机械平台,IM50 相机,BP 导轨,便携式计算机,BOR 计算程序。

 

CLIP校轴仪可以测量以下参数:

1.       夜视通道偏角(输入光学系统光轴与夜视通道输出光学系统光轴之间的夹角)

2.       热成像通道偏角(输入光学系统光轴与热成像通道光轴之间的夹角)。

3.       双通道校轴误差(夜视通道光轴和热成像通道光轴之间的夹角)

4.       可见光通道分辨率(最小可分辨目标的空间角频率)

5.       热成像通道分辨率(最小可分辨目标的空间角频率)

6.       双通道旋转角度差(可见光通道相对于热成像通道的旋转角)

7.       可见光通道的旋转角度(可见光通道生成的图像相对于瞄准镜生成的图像的旋转角)

8.       热成像通道的旋转角度(热成像通道生成的图像相对于瞄准镜生成的图像的旋转角)

9.       夜视通道的轴对准误差(无限远时夜视通道的光轴与聚焦有限远目标时同一光轴之间的夹角)

10.    热成像通道的轴对准误差(无限远时热成像通道的光轴与聚焦有限远目标时同一光轴之间的夹角)

 

FCLIP 校轴仪主要由以下4种配置,每种配置覆盖不同的测试能力。

FCLIP-A只能测量无限远目标情况下两个成像通道的偏转角。一般假设被测成像器的光学物镜焦距大于2000mm即可看做是无限远。因此,可以认为FCLIP-A可以满足大多数卡扣式成像器的测试需求。

FCLIP-B提供与FCLIP-A相同的测试能力,另外可以测量两个成像通道的分辨率。这个功能帮助评价被测成像器的成像质量。

FCLIP-C提供与FCLIP-B相同的测试能力,另外可以测量图像旋转偏差。

FCLIP-D提供有限远目标(距离:约50m、100m、200m、400m、1000m和无限远)时测量两个成像通道的轴偏差。当测试高性能融合成像器时这种有限远目标测试是必要的。


关键词:发生器
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