SPOT中波红外焦平面阵列空间响应测试系统

SPOT测试系统的外形图

SPOT中波红外焦平面阵列空间响应测试系统是扫描式光斑投影系统，它将高亮度的极小光斑投射到被测MWIR FPA表面上，同时测量其输出信号。它可以直接测量MWIR FPA传感器的空间响应分布函数，也可间接精确测量这些成像传感器的MTF和串扰。

SPOT测试系统的各部件结构如下，包括光斑投影系统和扫描系统。测试原始红外FPA传感器时，SPOT还可以配置与FPA相匹配的高动态范围电路。

SPOT测试系统的原理图

设备特性：

 测量FPA单个像元输出的信号，通过反卷积来计算结果

 计算MTF和串扰

 软件提供调焦功能

产品参数

• 参数	描述
  被测传感器
  传感器类型	制冷式 MWIR FPAs 响应范围 1 um 到 5.5 um
  可供选择的被测传感器	SWIR FPAs, VIS-NIR FPAs,   UV FPAs
  像元尺寸	典型尺寸 > 8um  可选 < 8 um
  FPA 分辨率	SXGA 格式 1280 x 1024
  响应率	>0.1 A/W
  配件	需提供读取设备和杜瓦瓶
  光斑投影系统
  功率	4 mW
  光斑直径	在70% 能量时< 6 um
  功率调节范围	大于100
  光学部件	近似，达到衍射极限
  控制方式	USB接口，PC控制
  扫描系统
  XY扫描范围	不小于 10x10 mm
  扫描分辨率	粗略移动 – 2.5 um; 精准移动 - 0.5 um
  调焦范围	18 mm
  调焦分辨率	0.5 um
  控制方式	USB接口，PC控制
  环境要求
  工作温度	+5ºC 到35ºC
  储藏温度	-5ºC 到55ºC
  工作湿度	不超过85%
  储藏湿度	不超过90%