产品应用
• 可见光波段TO56测试
• TO光谱测试
产品特点
• 支持任意引脚切换,多种封装测试
• 支持老化前后对比,可对比各项测试参数,便于失效分析
• 测试加电无过冲,加电EOS波形如下(典型TypeC器件加电测试)
• 兼容PSS老化板,可一站式完成TO老化、测试
• 软件操作方便,具有统计和分档功能,方便批量测试分析
参 数 | 指 标 |
激光器封装类型 | VCSEL/FP/DFB/ DML器件任意封装类型 |
路数 | 64路 |
LD驱动电流输出 | 0 ~ 500mA |
LD正向电压测试 | 0 ~ 5.0V |
LD暗电流 | 0-300nA,精度0.5%±1.5nA |
LD保护二极管 | 电压范围0-5V,电流范围0-2mA |
MPD反压输出 | 0 ~ 5.0V |
MPD暗电流测试 | 0 ~ 300nA |
MPD背光电流测试 | 0 ~ 3000uA |
光功率检测 | 0 ~ 100mW |
测定项目 | (1)LIV特性 (2) 光谱特性 (3)焦距 |
焦距测试 | 范围3mm ~ 20mm,重复性±0.05mm,时间22s(非球@典型值) |
环境要求 | 25℃±5℃、≤%50湿度 |
电源 | AC 220V/50HZ |
设备尺寸 | 755mmX715mmX760mm |