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LD集成式老化系统

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  • 公司名称武汉普赛斯电子股份有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地武汉市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2024/5/8 13:52:24
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武汉普赛斯电子股份有限公司是“武汉·中国光谷”一家企业,2010年成立于中国·武汉,是一家集研发、生产、销售、服务于一体的技术型企业,荣获“专精特新”小巨人企业。普赛斯电子长期专注于激光和半导体领域测试仪器仪表和测试系统方案,产品覆盖光通信、激光雷达、激光显示、激光医疗,以及半导体等晶圆芯片器件的生产线。自主开发的相关仪表和系统方案,如激光器综合测试系统、光电探测器综合测试系统、光电组件可靠性分析装备、精密源表、大电流高精密芯片测试、高电流窄脉冲晶圆测试机等推向市场,实现国产化替代。多类产品高,测试产品覆盖整个行业纵深,是国内极少数真正做到自主垂直整合的测试系统方案提供商。  公司拥有硕士、博士为主的研发团队和经验丰富的管理团队。现有员工近300人,其中研发人员近60%,2位教授,4位博士,大部分研发人员为硕士。研发团队由一批的通信、电子技术和管理等专业人士组成,公司研发中心包括仪器仪表研发部和自动化研发部,主持和参加了多项省市及重要科技研究课题。在微弱信号检测与抗干扰、高速、射频电路设计、自动化系统设计与系统集成,光芯片测试核心算法,以及视觉检测算法领域具有雄厚的研发能力和长期的沉淀。依托所掌握的核心技术,在光电检测与测试等方面取得了众多的科技成果,并获得了多项发明。公司还开发了测量微弱电流以及半导体材料特性检测的系列电性能测试仪器仪表设备,如皮安表、源表、大功率脉冲源、大功率激光器相关测试系统、半导体制冷器的相关测试系统等。   普赛斯电子秉承追求品质、求精、服务、创新的企业工匠精神,为客户提供优质的产品与贴心的服务。打造为光电和半导体测试平台与方案提供的者!
光功率测试仪
LD集成式老化系统,用于各种类型封装LD器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。该系统可以通过软件配置管脚定义并提供高达500mA的驱动电流以及150℃高温老化条件,同时对器件的驱动电流、背光电流以及阈值进行实时监控测试,并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据,支持对老化失效器件的数据追述。最多支持3072pcs的单次老化。
LD集成式老化系统 产品信息
    • 商品名称: LD集成式老化系统
    • 型号: PSS LDBI13003
    • 描述: 支持DML TO老化,3072路

    LD集成式老化系统,用于各种类型封装LD器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。该系统可以通过软件配置管脚定义并提供高达500mA的驱动电流以及150℃高温老化条件,同时对器件的驱动电流、背光电流以及阈值进行实时监控测试,并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据,支持对老化失效器件的数据追述。最多支持3072pcs的单次老化。

    产品应用

    • 批量生产环节中LD TO器件进行老化筛选
    • 长时间可靠性失效测试分析

     

     

  • 产品特点

    • 提供每路独立的驱动电流
    • 软件切换支持各种类型封装LD器件的老化

     

     

    • 两个独立老化箱体,可以独立控制,升温速度效率高,无过冲

     

     

    • 支持多种算法计算Ith
    • 支持热插拔,可靠的ESD/EOS防护,保证器件老化期间的安全

     

     

    • 支持老化板监控插拔次数在线记录功能
    • 64路老化板作为通用载体,可以实现盘测、老化、分拣不同工位直接的转料,提高生产效率

  • 参 数

    指 标

    测试路数

    单板64路,左右2个仓,每层24个,共3072路

    独立温区数

    2个

    LD驱动电流

    0~250mA

    LD正向电压

    0~3V

    LD监控电流

    0~250mA

    PD监控电流

    0~2000uA

    管脚定义

    软件切换支持各种封装类型的器件

    Ith 扫描

    支持Im扫描计算Ith

    温度范围

    RT+20℃~150℃

    温度精度

    ±2℃

    温度均匀性

    满载时≤3℃,空载时≤2℃

    升温过冲

    ≤3℃

    长期温度稳定性

    0.5℃

    升温速度

    100℃/半小时

    设备尺寸(宽x高x深)

    1400 x 1800 x 1200(mm)

    电源规格

    三相五线AC 380V/50HZ

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