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DFB+EML(双针)芯片测试机

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  • 公司名称武汉普赛斯电子股份有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地武汉市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2024/5/8 13:55:36
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武汉普赛斯电子股份有限公司是“武汉·中国光谷”一家企业,2010年成立于中国·武汉,是一家集研发、生产、销售、服务于一体的技术型企业,荣获“专精特新”小巨人企业。普赛斯电子长期专注于激光和半导体领域测试仪器仪表和测试系统方案,产品覆盖光通信、激光雷达、激光显示、激光医疗,以及半导体等晶圆芯片器件的生产线。自主开发的相关仪表和系统方案,如激光器综合测试系统、光电探测器综合测试系统、光电组件可靠性分析装备、精密源表、大电流高精密芯片测试、高电流窄脉冲晶圆测试机等推向市场,实现国产化替代。多类产品高,测试产品覆盖整个行业纵深,是国内极少数真正做到自主垂直整合的测试系统方案提供商。  公司拥有硕士、博士为主的研发团队和经验丰富的管理团队。现有员工近300人,其中研发人员近60%,2位教授,4位博士,大部分研发人员为硕士。研发团队由一批的通信、电子技术和管理等专业人士组成,公司研发中心包括仪器仪表研发部和自动化研发部,主持和参加了多项省市及重要科技研究课题。在微弱信号检测与抗干扰、高速、射频电路设计、自动化系统设计与系统集成,光芯片测试核心算法,以及视觉检测算法领域具有雄厚的研发能力和长期的沉淀。依托所掌握的核心技术,在光电检测与测试等方面取得了众多的科技成果,并获得了多项发明。公司还开发了测量微弱电流以及半导体材料特性检测的系列电性能测试仪器仪表设备,如皮安表、源表、大功率脉冲源、大功率激光器相关测试系统、半导体制冷器的相关测试系统等。   普赛斯电子秉承追求品质、求精、服务、创新的企业工匠精神,为客户提供优质的产品与贴心的服务。打造为光电和半导体测试平台与方案提供的者!
光功率测试仪
本设备应用于光芯片LD-CHIP高温/常温LIV测试、SMSR测试及背光抽测并对不同测试结果进行归类分档筛选。芯片wafer蓝膜上料,CHIP-ID自动识别记忆匹配测试,通过蓝膜顶针剥离机构,吸嘴吸取,机械手分别搬运到高温及常温测试区域,自动摆位,自动测试,分析筛选,机械手搬运分档归类。此设备具有高速、高精度特点,实现了复杂时序、严密逻辑的工艺过程。设备采用了偏心凸轮驱动、连杆及精密夹具等机构,配......
DFB+EML(双针)芯片测试机 产品信息
    • 商品名称: DFB+EML(双针)芯片测试机
    • 型号: PSS CHIP22405系列
    • 描述: 兼容DC、Pulse加电

    本设备应用于光芯片LD-CHIP高温/常温LIV测试、SMSR测试及背光抽测并对不同测试结果进行归类分档筛选。芯片wafer蓝膜上料,CHIP-ID自动识别记忆匹配测试,通过蓝膜顶针剥离机构,吸嘴吸取,机械手分别搬运到高温及常温测试区域,自动摆位,自动测试,分析筛选,机械手搬运分档归类。此设备具有高速、高精度特点,实现了复杂时序、严密逻辑的工艺过程。设备采用了偏心凸轮驱动、连杆及精密夹具等机构,配合多轴运动、视觉定位、视觉字符匹配等技术,具有批量生产能力。

    产品应用

    • 设备用于裸chip自动测试分bin,可以实现常温、高温条件下边发射芯片的光谱、LIV参数测试

     

  • 产品特点

    • 支持Chip的LIV、光谱相关参数的测试、绘制测试曲线

     

     

    • 芯片蓝膜自动上料,通过视觉系统自动识别芯片ID,测试台支持芯片在相机下自动二次定位,精准控制探针加电测试

     

     

    • 探针自动下压加电,探针下压力度可调,支持探针力度实时显示

    • 高温、常温测试台,温度采用闭环控制

     

     

    • 上料和中转动作同步,常温、高温载台测试并行,提升测试效率,上料吸嘴采用自重下压力,对chip无损伤

     

    • 支持测试台位光谱仪一拖二,节省系统测试成本
    • 生产过程中的异常情况均有报警提示及纠错提示功能
    • 与BAR条接触的材料采用防静电材料,并接地处理,配有静电消除离子风机
    • 支持本地和远程数据库
    • 多维度可调测量结构,满足用户对不同规格chip测量需求
    • 可用标准TO及芯片进行校准,并对其他工艺参数进行设置
    • 针对生产过程中的重要环节均有实时动态提示
    • 与芯片接触的材料采用防静电材料,并接地处理;上料处配有静电消除离子风机
    • 软件支持本地和远程数据库

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