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TPDS-X-1plus水稻整穗考种测量系统是基于图像处理技术，根据深度学习算法综合设计的考种测量软件。它能快速测量水稻的各枝梗穗粒数、一次枝梗长度和对应穗粒数、二次枝梗长度和对应穗粒数、枝梗着粒密度、穗着粒密度以及平均值、种子粒数、千粒重等指标。系统广泛适用于各农科院、高校、育种公司、种子站的水稻研究中！
水稻整穗考种测量系统功能特点：
1、多参数批量分析：水稻整穗考种测量系统可一键化自动分析各枝梗穗粒数、一次枝梗长度和对应穗粒数、二次枝梗长度和对应穗粒数、枝梗着粒密度、穗着粒密度以及平均值等，共测量23个参数指标。
2、枝梗可整体或者分步分析：一次枝梗和二次枝梗可单独分析，也可同时分析。
3、LED 背光光源装置：能够去除种子阴影和杂质，背光清晰。
4、自动换成千粒重：可通过识别的种子粒数，输入重量，可自动换算出千粒重。
5、数据采集方式：可多点快速取样，数据可批量分析并获取平均值。
6、比例尺自动矫正：任意手机可拍照，且拍摄成像视角可以被自动矫正，避免了拍照变形误差。
7、智能修正：动触摸屏幕进行修正，使结果更精准，可达99%。
8、数据查看：数据查看多样化，拍照分析后即可查看结果，也可在历史记录中查看数据报表。
9、数据导出和共享：水稻整穗考种测量系统支持数据修正、查询、编辑和导出，数据可导出Excel格式，并可分享至微信、QQ或者钉钉，便于多应用方式查看数据。
10、动态加密：可通过验证码进行加密，一个账号可在多个手机上使用，但不能同时使用。
水稻整穗考种测量系统技术参数：
适用范围：水稻室内考种时期，对水稻穗部形态和千粒重测量；
外形尺寸：水稻整穗考种外形尺寸 460*360*16mm；
A4背光板尺寸：33.5*23.3*0.4（cm）；
测量误差：穗长：≤±2% ；
总穗粒数：≤±2% ；
各枝梗长度：≤±3mm；
千粒重误差±2‰，修正后可达99%。
水稻整穗考种测量系统硬件配置：
水稻整穗考种背板装置：黑色磨砂材质；
背光板：发光超薄背板；
数据采集器：超大彩色屏手机。
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