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非接触式膜厚测量仪E-80

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  • 公司名称易泛特技术(深圳)有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地深圳市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2024/5/16 11:53:53
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易泛特技术(深圳)有限公司成立于2016年,有多名行业专家,致力于为行业客户提供业界的高分辩率、非接触式3D测量系统;Effecttek 3D测量系统采用白光和红光等纳米级分辩率的光学器件,配合高精度X/Y/Z移动平台和强大的3D软件算法处理,帮助用户解决精密测量难题,包括:线宽膜厚测量、高度差测量、平面度测量、共面度测量、粗糙度测量等,对透明材质的多层测量也得心应手;产品广泛应用于微电子、半导体、5G、3D玻璃、新型医疗、精密工业制造等领域,提供从产品研发、设计到加工验收的高精度测量支持。
x射线荧光镀层测厚仪
非接触式膜厚测量仪E-80产品描述:◆非接触光学测量系统◆应对各种高反光、高透光材质◆高速采样
非接触式膜厚测量仪E-80 产品信息

非接触式膜厚测量仪 E-80





产品描述: 

◆非接触光学测量系统


◆应对各种高反光、高透光材质


◆高速采样,周期20µs  


◆强大的CPK统计功能


◆测量轮廓、断差、槽深、膜厚等


技术: 

◆采用白光共焦技术,分辨率达到纳米级,同时采用了光纤传感器,具有抗干扰、损耗低、安全隔离、可靠性高等优点 


◆机械精度达到微米级,运行平稳,跳动小,磨损低 


◆Y向自动测量,重复精度1μm 


应用: 

◆环氧树脂测量 


◆印刷图形测量 


◆激光打标测量 


◆焊膏厚度测量 


◆表面膜厚测量 




设备技术参数:


项     目

技术参数

外观尺寸

650mm*500mm*600mm

测量扫描行程

80mm

Z轴可调行程

50mm

有效测量范围

60mm

扫描最小步距

2um

扫描速度

30mm/s

测试重复精度

20nm(标样)

电     源

AC220V±10%,50-60 Hz



关键词:光纤传感器
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