NanoMap-O三维非接触光学表面轮廓仪

产品简介：
         NanoMap-O三维非接触光学表面轮廓仪基于白光干涉测量技术，可快速精确测量材料表面参数，像表面粗糙度，划痕形貌，磨损深度、宽度和体积，台阶高度，薄膜厚度等。所有测量都是非接触、非破坏的，而且无需制样，无需真空，金属非金属均可，操作方便、直观。
产品特性：                                                                                产品应用：   
        非接触测量                                                                                  薄膜厚度测量
        成像质量在200万像素之上                                                       台阶高度测量
        0.001nm的分辨率                                                                      表面粗糙度测量
        nm到50mm的Z轴范围                                                              二维薄膜应力测量
        XY扫描范围达到150x150mm                                                   平坦度或曲率测量
       超高分辨率数字成像传感器传输数据快                                    表面轮廓（缺陷、形貌等）呈现
       大于15年的LED光源寿命                                                           划痕形貌，磨损深度、宽度和体积定量测量