数显硅酸根分析仪 型号:XN84GXF-215B 库号:M173373
主要性能指标
测量范围 0~50.0μg/L SiO2
基本误差 ≤±2.0μg/L
重复性误差 ≤±0.2μg/L
短期漂移 ≤±0.2μg/L (30分钟)
长期漂移 ≤±2.0μg/L (24小时)
功能丰富 实时交流
移动端访问更便捷
订阅获取更多服务
关注获取更多资讯
实时接收采购订单
数显硅酸根分析仪 型号:XN84GXF-215B 库号:M173373
主要性能指标
测量范围 0~50.0μg/L SiO2
基本误差 ≤±2.0μg/L
重复性误差 ≤±0.2μg/L
短期漂移 ≤±0.2μg/L (30分钟)
长期漂移 ≤±2.0μg/L (24小时)
*您想获取产品的资料:
个人信息: