符合zui严格的辐射防护标准的同时更具备简易的样品放置和耗材更换模式(采用滑盖设计)。探头指标高,性能好,寿命长;全新32位软硬件系统,工作可靠,效率高;配备高清晰的摄像定位系统,测量更直观、方便、快捷;配置固定样品用多轴向夹具。
激发源:Mo靶的X光管 风冷 (*)
软件: 菜单式软件,带硬件参数调整和数据评估及计算
计算机:选择配置
探测器: 固定式半导体封气正比计数器微处理器控制的探测器和读出电路
其它规格:
电压:交流220V/50Hz
zui大处尺寸: 500*400*200mm /重量: 17公斤
技术指标
分析范围:10%~99.99% 测量时间:自适应
测量精度: ± 0.2%
测试环境:常温常态
分析元素:Au 、Ag 、pt 、Pb、Rh 、Ru 、Cu、Zn 、Ni 、Cd
X射线源:X射线光管
高压器:4-50Kv
分析:多通道模拟
操作系统:Windows2000/Me/XP
镀层厚度范围<30µm
可测量元素种类:Au 、Ag 、Pt 、Pd 、Rh 、Ru、 Cu 、Zn 、Ni 、Cd
zui大测量层数:5层
测量精度:0.03µm
标准配置:
单样品腔 放大电路 高低压电源 X光管 计数器