双量程电子分析天平

双量程电子分析天平

双量程电子分析天平,zui大称重：30/180g精 度：0.00001/0.0001g

内装校准砝码，便于随时校准、精确可靠、使用方便，可满足各种实验室质量分析之需求。

自动校准功能：使用内装校准法码，只需按CAL键即可自动校准天平，便于用户随时对天平进行校准。

超载/欠载报警显示功能。　　　

去皮功能：使用TARE键可在全量范围内去皮。

累加/累减功能。

底钩称量功能：使用内装底钩称量装置可进行密度测定或用于称量磁性物体。

上海艾测电子科技有限公司

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传真:-602，-602

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