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三维光学轮廓仪-光学轮廓测量仪

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  • 公司名称标准集团(香港)有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地上海市
  • 厂商性质生产厂家
  • 更新时间2017/10/10 10:12:14
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    标准集团(香港)有限公司是一家提供材料测试仪器设备的综合供应商,公司总部在中国香港,在上海设有分公司,在长沙、武汉、济南、沈阳、成都、杭州等地设有办事处及售后维修中心。上海泛标纺织品检测技术有限公司为标准集团上海分公司,全面负责中国大陆地区的销售和售后服务。

    公司创立于2003年,总部设在香港。成立之初,公司起步于纺织领域的开发,秉持专业、真诚、热情、高效的服务理念,全面贴近客户需求,取得了客户高度认可。其后,为满足客户日益增长的需求,公司逐步拓展产品线,扩张至相邻的皮革、地毯、床垫、玩具、非织造、包装材料等领域,随后,又延伸至过滤材料、电子电器及光学光谱等多个领域。多样化的产品结构,使得标准集团在竞争日益激烈的市场中始终保持优势地位,并能充分满足客户日趋复杂的多元化需求。

    多年来,标准集团和多家欧美仪器设备制造商建立了*战略合作关系,从而保障了客户能得到始终如一的高品质服务。多年的专业积累,使得我们不仅能为国内科研单位、企业、质检机构提供高品质的测试仪器设备,还能为材料测试相关的实验室提供整体的解决方案。从前期标准化的实验室规划、设计和施工流程,到后续的培训、资质认证和规范化运作,我们努力为客户想的更深,做得更多。

    标准集团产品种齐全,涵括测试仪器、实验消耗品及专业测试服务;主要经营的产品种类有:颜色及色彩评价、显微及法政检验、3d人体扫描及假人模拟、床垫测试仪器、地毯测试仪器、玩具测试仪、湿度测量&控制系统、土壤温湿度计附件、纺织及服装、无纺布及土工布测试仪、透气性测试仪、单向耐磨仪、皮革及鞋材测试仪、过滤材料测试仪、交通工具类测试仪、耐候及老化测试仪、高加速老化测试系统、烘箱环境设备、轻工及包装材料测试仪、电子电器测试仪、光化光谱及其它相关测试仪器。为确保产品质量的可靠性,在每件产品出厂前,都会经过严格的测试和校准,并配有相关校准证书,从而保证我们的每件产品都能满足主流的标准。

    一直以来,我们始终坚持引进*的产品,依赖专业高效的服务团队,整合技术和资源优势,为客户解决科研生产中遇到问题提供支持,从而带动国内科研及相关行业水平的提高。通过个性化的售前产品咨询,高效率的售后安装、维护和维修,标准集团正赢得越来越多制造商和客户的双重信赖。

提供高性价比高品质的纺织及服装测试、皮革及鞋材测试、燃烧类测试及其他相关测试仪器与检测服务。
三维光学轮廓仪-光学轮廓测量仪采用白光轴向色差原理(性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪)对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量,测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌,台阶高度。
三维光学轮廓仪-光学轮廓测量仪 产品信息

三维光学轮廓仪-光学轮廓测量仪采用白光轴向色差原理(性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪)对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量,测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌,台阶高度,给MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料,光学元件、陶瓷和*材料的研发和生产提供了一个精确的、价格合理的计量方案。
产品特性:
1.采用白光轴向色像差技术,可获得纳米级的分辨率
2.测量具有非破坏性,测量速度快,精确度高
3.尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面
4.不受样品反射率的影响
5.不受环境光的影响
6.测量简单,样品无需特殊处理
7.Z方向max测量范围为27mm
8.测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)
技术参数:
垂直测量范围:27mm
垂直分辨率:<2nm
扫描速度:1m/s
横向分辨率:5nm
可视区域:400*600mm
三维非接触式光学轮廓仪技术参数:
垂直测量范围:27mm
垂直分辨率:<2nm
扫描速度:20mm/s
横向分辨率:0.1m
测量范围:150mm×150mm
美国NANOVEA公司是一家*的在微纳米尺度上的光学表面轮廓测量技术的*,生产的光学轮廓仪是目前上用在科学研究和工业领域的*表面轮廓测量设备,该公司在光学设计、精密机械和科学软件算法方面,拥有*不断发展的技术,由于这些专门技术的应用,NANOVEA为生产和质量控制的研究和发展提供精密准确的*解决方案。
NANOVEA的表面测量系统适用于研发和生产过程控制中的定性和定量测量,其核心部件达到纳米尺度的创新的光学设计,其强大且友好的软件控制使所需获得的数据不仅速度快,而且精度高,并提供了多种不同的表面分析方法,与系统匹配的软件包含参数设定(如扫描尺寸、线数、步进、转换台速度、数据采样速度)和数据后处理功能(如Abbott-Firestone曲线、快速傅立叶变换、自相关功能、三维成像、二维切片成像等) ,可以定量地测量表面粗糙度及关键尺寸,诸如晶粒、膜厚、孔洞深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等,并计算关键部位的面积和体积等参数。

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