芯片缺陷检测项目决解方案

本次项目主要分为两部分：*部分是功能算法实现部分，包括从工业相机设备获取图像，作为图像输入，这一步也是图像处理的*步。一个系统，一直可以理解为三个部分，输入部分、中间处理部分、输出部分。算法实现（包括图像的预处理，图像增强，图像分割，图像的特征提取，图像理解等等）可以作为中间处理部分，后得到的结果，例如：图像中目标是什么状态、有无缺陷、具体的参数等等都可以作为图像的输出，从另外一个角度思考，可以理解为：将图像按照一定的规则进行分类，分类结果就是图像输出，从一个泛化的图像，经过中间处理过程，计算机对于图像的理解分析，之后进行决策分类得到一个定性的结论，正是我们所需要的输出结果。*部分主要作为算法代码实现，halcon支持直接将代码导出为C++代码，很方便，不会在功能代码移植上造成很大的困扰，不过，之后在VC环境下配置过程中，需要注意的问题很多。
第二部分，主要是为了与机器交互上方便而引入的部分，不涉及图像处理算法相关，基于x64的MFC框架，对其基类CDialog、CFormView、CPropertyPage、CTimer类方法进行重写，这部分就不详细说了。
---------------------

作者：dlphay
来源：CSDN
原文：blog.csdn.dlphay/article/details/71191600
版权声明：本文为博主原创文章，转载请附上博文链接！