TL-200 推力测试机是针对物联网RFID电子标签进行芯片推力测试而开发的一款设备,测试的数据能与带电脑控制的推拉力测试机相当,经济实惠,用于实验室和自动化生产线上非常适合。
TL-200 推力测试机
特点:
1》采用连续变倍显微镜;
2》定制化的推刀;
3》采用进口推拉力测试仪;
4》天线的固定方便快捷,天线吸附带有真空吸附功能;
5》整体加工零件表面采用硬质化处理,大方美观。
操作流程:
1》固定天线到预定位置,打开真空;
2》调整显微镜,能很清晰看到芯片位置;
3》微调推力测试仪至芯片正前方,确定推刀高度;
4》前移推力测试仪,推芯片;
5》察看推力测试仪记录的大推力值,记录下来作为终测试数值;
6》如此循环上面的操作。