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赛黙飞世尔量色散X荧光光谱仪（原美国热电）（ED XRF）

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面议

具体成交价以合同协议为准

公司名称驭锘实业（上海）有限公司
品牌
型号量色散X荧
所在地上海市
厂商性质代理商
更新时间2017/11/28 4:53:25
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产品标签:

赛黙飞世尔量色散X荧光光谱仪

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公司介绍主营产品

驭锘实业(上海)有限公司自成立以来，始终恪守“激情，奋进，责任”的理念，以诚信的经营之道赢得客户的信任。公司总部设在香港九龙尖沙咀，在中国大陆分别设有：上海公司，成都公司，武汉公司，苏州办事处。进入中国大陆市场以来，通过与分销伙伴的紧密合作，公司在不断的快速发展之中，致力于为客户提供专业、方便、快捷的本地化服务。多年来，公司依托生命与化学事业部，电子事业部，并与Agilent，Thermo，Varian，SHIMADZU, Spectro，Tektronix，Fluke，Waters，Keithley，GW等公司良好的合作关系，为用户提供*品质的实验室仪器、设备，到为客户度身定制系统的实验室整体解决方案，通过专业、细致和全面的技术支持服务实现“为客户创造更多价值”的承诺。我们所提供的产品和服务被广泛应用于工业电子制造、文教科研院所、通信以及信息技术、微电子、生物制药实验室、石油、政府检测机构、烟草、食品、生命科学、等多种领域。

展望将来，公司将会引进更多的化学和电子的分析和测试的仪器，为客户提供测试测量技术开发、产品配套、系统集成(软、硬件)、维修、租赁、第三方仪器设备外包管理、采购管理、咨询服务以及保税库物流配套服务等。并将更多专业的应用技术渗透到日常服务中去，更便捷、更周到地满足客户需求。对赛德威而言，客户需要的正是我么所追求的，是我们孜孜以求的坐标和不断超越的动力！在未来激烈多变的市场竞争中，赛德威将与客户一起携手并进，共创辉煌

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气相色谱仪,液相色谱仪,气质联用仪,红外光谱仪,原子吸收光谱仪,电子天平,粘度计，搅拌器，旋转蒸发仪，滴定仪,水分仪,培养箱,离心机等

产品简介在线询价

赛黙飞世尔量色散X荧光光谱仪(原美国热电)(ED XRF) ＊端窗超高通量RH靶，76um铍窗，空气冷却＊*的大面积高厚度硅锂Si(Li)检测器＊全数字化谱分析器 32bit 4096通道＊高稳定性：RSD<0.3% 8小时＊检测元素：F~U

赛黙飞世尔量色散X荧光光谱仪（原美国热电）（ED XRF）产品信息

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赛黙飞世尔科技 ThermoFisher（美国热电）能量色散X-射线荧光光谱仪（ED-XRF）仪器介绍　　　　　　

＊端窗超高通量RH靶，76um铍窗，空气冷却
＊*的大面积高厚度硅锂Si（Li）检测器
＊全数字化谱分析器 32bit 4096通道
＊高稳定性：RSD<0.3% 8小时
＊检测元素：F~U

技术参数

赛黙飞世尔科技 ThermoFisher（美国热电）能量色散X-射线荧光光谱仪（ED-XRF）

样品室：样品类型固体、粉末、液体、滤渣、镀层和其它
尺寸 30.5cm（w）x38.9cm（D）x6.6cm（H）
增高室（选购件）: 21.5cm或37.1cm
单位盘样品可大至样品室大小
10位盘（选购件）带自转机构，样品可大至47mm
20位盘（选购件）样品可大至31mm
自动和手动盘为特种样品的样品盘，选购件
环境空气、真空（选购件）和充氦（选购件）

激发（核心元件）：
X-光管：超高通量，端窗，RH靶，76um铍窗，空气冷却，其它靶可选
X-光发生器 4-50KV，1KV间隔。O.02-2.OmA,0.02mA 间隔
滤光片 7种滤光片加1空位，自动选择
准直器（选购件） 1.0、2.0、3.5、6.8和8.8 五种

X射线检测配置器（核心元件）
类型：Si（Li）硅锂
晶体面积：
Si（Li）面积15mm?，分辨率<155 eV
Si（Li）LN Si（Li）面积30mm?，分辨率<149 eV
晶体厚度： 3.5mm
检测元素：F~U

制冷方式：电致冷/液氮致冷
稳定性：RSD<0.3% 8小时
灵敏度：Fe, Pb <3pmm（油）
再现性：RSD<0.3%/1x10负6次方计数

谱处理器（核心元件）
处理器类型：全数字话 32bit 3 DSP
谱通道：2048 20eV/通道
修正时间：1~40ms, 用户选择
计数率：>100,000cps （live）
能量范围：400~4096eV
死时间影响：<3.0%
重叠校正：<0.3%
能量校正：软件自动

尺寸和重量
外形尺寸宽71.88cm，高41.15cm，深59.18cm
重量 90.7kg

使用要求
电源 100、115或230VAC,50或60hz，功率1000W，真空泵需2000W
遥控诊断和遥控监测需要通过因特网连线

环境要求
温度 O～32℃
湿度 20～80％RH（无冷凝水）

赛黙飞世尔科技 ThermoFisher（美国热电）能量色散X-射线荧光光谱仪（ED-XRF） 主要特点

超大Si（Li）硅锂离晶体，具有*的痕量分析的灵敏度，打破lng的检测限壁垒
全数字脉冲处理器技术，死时间达60%，以及优异的峰背比
高级FP无标样分析软件，进行无标样分析，减少对标样的依赖性
高灵敏电制冷Si（Li）探测器技术, 仪器免维护和*运行
超大样品室，可容纳300mm400mm的样品
全自动校准，自动监测，自动报警系统，*计算机控制
镀层和薄膜测量技术, 具有无标样分析测厚技术

数据采集
数字脉冲处理器全部参数程序控制，自动能量校正
多道脉冲分析器 32位，4096道多道分析器
数据接口计算机以太网接口

分析处理器和 WinTrace
计算机／打印机主流计算机和彩色打印机
显示 X-射线能谱，重叠谱比较，峰鉴定标记，分析参数
输出监视器，图形打印机和调制解调器
自动化样品室环境，X一射线源输出，滤光片选择，多次激发条件，和样品选择
谱处理自动元素鉴定，数字滤波本底扣除，zui小二乘法经验峰去卷积，总峰强度，和净峰强度
分析技术经验系数法和基本参数法，归一化，校正曲线图显示
操作系统微软WindowsXP及更新的版本

参考方法
ASTM方法
D5839-96（2001） X-荧光能谱法测定危险废燃料中痕量元素的标准测试方法
D6052.97 X-荧光能谱法对液体危险废料中元素分析的标准测试方法。

* 用于美国H.R.4040（HR4040）法规检测（2009年8月实施）
【2008年8月14日，美议会第4040号提案（H.R.4040）生效，此法案对美国消费品委员会（CPSC）进行了重新*，大大加强了CPSC在保证美国消费品安全中的作用，尤其是对儿童玩具及护理产品的要求达到了*的高度。H.R.4040有几项重大变化：检测范围扩大至玩具上任何可触及材料；总铅限呈逐级递减，由600ppm，2009年8月14日起降至300ppm， 2011年8月14日降至100ppm。而儿童产品中油漆等表面涂层材料的要求更为严格，其总铅*将在2009年8月14日后锐减至 90ppm。
H.R.4040不仅使玩具业会面临更为严峻的法律环境，同时对玩具实验室也提出了更高的检测要求。标准的提高对检测仪器的灵敏度、精度、连续稳定性也提出了更高的要求。】

连续稳定性也提出了更高的要求。】
* ROHS检测、RoHS & WEEE 指令分析、HR4040标准检测应对
* 气溶胶颗粒滤膜
* 刑侦以及痕量分析
* 营养添加剂
* 磁性磁性介质和半导体

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