ARM 角分辨光谱仪

ARM 角分辨光谱仪 在以上领域的应用得益于如下几个特点： 1  超过 60° 的角度  ARM 优选 Olympus 大 N.A. 平场复消色差物镜，收集超过 60° 的角向辐射光谱；匹配智能算法，快速实现包括 透射 / 反射 / 辐射 (荧光) 等 9 种光谱测量模式； 2  达 5 个维度的空间选择  ARM 内置一个设计的可调 Aperture，可以实现 X / Y 方向开口距离调节，XY 两维平面位置平移，及平面内 θ 方向旋转，准确抓取 复杂形貌 的微区样品； 3  小 0.5° 角分辨率  ARM 采用特殊优化的消色差、消相差光路，能够将角度分辨率提升至 0.5°，显著提升光谱分析能力； 4  1.7μm 近红外拓展 NEW  新一代设计的 ARM 重新对角分辨光路系统进行构型，* 在近红外波段 900~1700nm 实现角分辨光谱测量，对推动光通讯、超表面、激光雷达等领域研究具有重要价值； 5  低温 + 磁场拓展  新一代 ARM 也拓展了对低温和磁场环境的支持，可适配低 2.7K 低温恒温器 和 5T 磁场强度 超导磁体； 6  除此之外，ARM 还可与外部光源及 Princeton Instruments 光谱仪衔接，实现包括时间分辨、空间相干性、瞬态光谱采集等功能。
      
     ARM 角分辨光谱仪 技术起源：角分辨光谱技术（Angle-resolved Spectroscopy, ARS），诞生于复旦大学，是一种 精细化的光谱技术。基于该技术而生的角分辨光谱仪具有在 不同角度下 探测材料光谱性质的能力，突破传统光谱技术不能分辨角度的局限，是获取光子材料色散关系，实现光学性质“全面表征”的重要且手段，在 微纳光子学、低维材料、发光材料 等领域具有重要应用价值。