TFD-4000二氧化硅检测仪

TFD-4000二氧化硅检测仪

性能指标：
波长范围：2.5-25um （波数范围：4000-400cm-1）
波数精度: ≤±2 cm-1 (2000-400 cm-1)

≤±4cm-1 (4000-2000 cm-1)

全波长扫描  狭缝程序五档可调
杂散光≤0.5%T(4000-650cm-1)；

≤1%T(650-400cm-1)；

透过率精度：≤±0.2%T（不含噪音电平）
样品研磨至粒度小于8Lm
内置高配计算机，自备Windows xp操作系统，中文操作平台，USB2.0接口
粉尘中游离二氧化硅检测仪特点：
具有快速、灵敏、能鉴别游离二氧化硅的三种晶形等特点, 而因其设备投资较少、操作 。
简便、可适用于自动分析等优势获得了广泛的应用。
坚固的设计和实用的外观尺寸适合各种分析测试环境。
优异的灵敏度和信噪比 。
将检测元件、信号放大器与24 位的模／数转换器集成在一起，直接输出数字信号（模拟信号在传输过程中衰减较大且易受到干扰，而数字信号则可*避免)，进一步降低电子噪声；24 位模／数转换器则将系统的弱信号检测能力提高了一个数量级。
采用高性能计算机进行仪器控制和数据处理，WINDWOS全中文操作界面
由电磁驱动装置和精密机械导轨构成的运动部件，改善了对使用环境的要求
高强度光源采用球形反射装置，可获得均匀、稳定的红外辐射。

TFD-4000二氧化硅检测仪 配套附件：粉末压片机、压片模具、玛瑙研钵器、红外烘烤箱（或电热干燥箱）、*粉末、*电子天平（0.01mg）、*高温电炉、*α-SiO2标准品：纯度在99%以上