Formtracer 表面粗糙度/ 轮廓测量仪

Formtracer 表面粗糙度/ 轮廓测量仪

特点

• 大幅提高的驱动速度(X 轴: 80 mm/s, Z2 轴立柱: 20mm/s) 进一步减少了总的测量时间。

• 为了长时间保持横向线性规格，采用极坚硬的陶瓷导轨，既抗老化又经久耐磨。

• 驱动器 (X 轴) 和立柱 (Z2 轴) 均配备了高精度线形编码器 (其中Z2 轴上为ABS 型)。因此，在垂直方向对小孔连续自动测量、对较难定位部件的重复测量的重复精度得以提高。

Formtracer 表面粗糙度/ 轮廓测量仪

 直线度: ±(0.05+0.001L)μm*于需要高精度测量的工件。*S4 型、H4 型、W4 型；L 为驱动长度 (mm)。

• 符合JIS '82/'94/'01, ISO, ANSI, DIN, VDA 等表面粗糙度的标准。

• 标准配置：高精度测头 (0.75mN / 4mN 测力)，分辨率高至0.0001μm

基本技术参数:

基座尺寸 (W x H): 600 x 450mm 或 1000 x 450mm

基座材料: 花岗岩

重量：主机: 140kg (S4), 150kg (H4), 220kg (W4)；140kg (S8), 150kg (H8), 220kg (W8)

控制器: 14kg

遥控箱: 0.9kg

电源: 100 – 240VAC ±10%, 50/60Hz

能耗: 400W (主机)

轮廓测量技术参数:

X 轴

测量范围: 100mm 或 200mm

分辨率: 0.05μm

长度基准: 反射型线性编码器

驱动速度: 0 - 80mm/s 外加手动

测量速度: 0.02 - 5mm/s

移动方向: 向前／向后

直线度: 0.8μm / 100mm, 2μm / 200mm

* 以X 轴为水平方向上

直线位移: ±(1+0.01L)μm (SV-C3100S4, H4, W4)；精度 (20ºC 时) ；±(0.8+0.01L)μm (SV-C4100S4, H4, W4)；±(1+0.02L)μm (SV-C3100S8, H8, W8)；±(0.8+0.02L)μm (SV-C4100S8, H8, W8)

* L 为驱动长度 (mm)

倾角范围: ±45º (带有X 轴倾斜单位)

Z2 轴 (立柱)

垂直移动: 300mm 或 500mm

分辨率: 1μm

长度基准: ABSOLUTE 线性编码器

驱动速度: 0 - 20mm/s 外加手动