MX50M研究级电子材料​显微镜

MX50M研究级电子材料​显微镜从外观到性能都紧跟*设计风向，致力于拓展工业领域全新格局。MX50M秉承不断探索、不断超越的品牌设计理念，为客户提供完善的工业检测解决方案。

MX50M研究级电子材料​显微镜

多档分光比观察头设计全新MX50M系列观察筒，采用宽光束成像系统设计，支持26.5mm的超宽视野观察，带给您全新的大视野体验。两档式正像铰链三目观察筒，保证样品的移动方向与您通过目镜观察到的方向*，使操作更加得心应手。三档式铰链三目观察筒，在成像光线*用于双目观察或三目摄影的基础上，增加一档20%用于双目观察，80%用于显微摄影，方便用户同时对镜下图像与视频图像进行对比观察；

偏振系统偏振系统包括起偏器和检偏器，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更清楚。检偏器分为固定式检偏器和360度旋转式检偏器。360°旋转式检偏器可在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态。可在偏振系统的基础上加载舜宇全新研发微分干涉器，建立诺曼尔斯基微分干涉衬比系统。

诺曼尔斯基微分干涉衬比系统全新研发的U-DICR微分干涉组件，可以将明场观察下无法检测的细微高低差，转化为高对比度的明暗差并以立体浮雕形式表现出来，如LCD导电粒子，精密磁盘表面划痕等。

中性密度滤色镜连动明暗场观察设计照明器前端的拨杆可使明暗场观察切换更加方便，并带有中性密度滤色镜（ND50）联动功能。由于暗场观察时通常需要将光源开得比明场观察更亮，此功能设计可以避免用户在由暗场切换至明场时，眼睛不会受到强光的刺激，提高使用的舒适性。