在近日举办的Laser World of Photonics行业盛会上,全球领先的技术提供商MKS Instruments发布了一种紧凑、强大的光束分析和高功率激光测量系统Ophir BeamPeek,用于快速、准确、实时地测量增材制造腔中的激光器。
据介绍,BeamPeek系统可以在3秒内同时提供光束轮廓、焦斑分析和功率测量。值得一提的是,这款设备不需要水或风扇冷却,因为系统包括一个可更换的被动冷却梁转储托盘,消除了测量期间的停机时间。
BeamPeek系统可以在2分钟内测量1kW的绿色(532nm)和近红外(1030-1080nm)波长。在该系统中,有源器件(电子器件、光学器件、相机器件和电能表器件)置于一个有遮蔽的小室内,在1kW条件下时,每分钟温升不超过2.5℃。该系统包括一个创新的束流转储设计,消除了系统冷却的时间。当主光束进入系统时,它会遇到一个光束采样器,采样器能够将约4%的激光功率转移到热传感器;剩下的96%被束流捕获,用于更快的冷却,因此系统能够立即重复度量,实现持续的工作周期。
BeamPeek系统是添加剂制造室粉末床现场服务测试的理想选择。它能够承受室内处理的严苛条件,包括存在金属粉末残留和冷却剂或气流连接点不可用时进行操作。
BeamPeek系统由一系列Ophir软件支持:StarLab、BeamPeek Tool和BeamGage Professional。BeamGage是业内最先进的光束分析系统。它基于Ophir的专利基线校正算法Ultracal,该算法帮助建立了ISO 11146-3光束测量精度标准。BeamGage软件包括所有计算所需的精确,ISO批准的激光束测量,包括功率和光斑直径,功率密度,光斑位置,等等。该软件提供先进的图像处理功能,nist可跟踪功率测量,趋势图表,数据记录,通过/失败的生产测试,和多语言支持。
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