《测长仪校准规范》国家计量技术标准征求意见

2024-04-17 17:17:26来源：仪表网关键词：测长仪阅读量：25509

导读：测长仪是用于测量量块、光滑极限量规、标准环规、螺纹量规等标准及零部件端度尺寸的几何量精密测量仪器。

　　根据国家市场监督管理总局下达的国家计量技术规范制修订计划，全国几何量长度计量技术委员会已完成《测长仪校准规范》的征求意见稿。为使国家计量技术规范能广泛适用和更具可操作性，现向全国有关单位及专家公开征求意见和建议，截止时间2024年5月20日前。

　　测长仪是用于测量量块、光滑极限量规、标准环规、螺纹量规等标准及零部件端度尺寸的几何量精密测量仪器，由于其操作相对便捷、准确度较高、配合数字化数据处理系统等特点，广泛应用于计量技术机构的量值传递和精密测量以及机械产品生产的各个质量检验环节。该类仪器早期均为光学机械式，随着光栅技术和数据处理方式的广泛应用，出现了数显测长仪，仪器的功能、计量特性出现了较大变化。在结构及原理上，测长仪采用了阿贝原理或光栅补偿或激光等技术方法，使其误差可控制在(±0.5～±2)μm，新型数显测长仪采用数据补偿后，其误差最高可达±0.10μm。

　　现行的JJF1189-2008《测长仪校准规范》，已颁布实施了十多年,在规范测长仪(含数显类)校准方法、保障量值溯源方面起到很大作用。近十多年来，数显测长仪的保有量剧增,本次修订将考虑到测长仪的多种结构型式，新增图例，新增细分示值误差和Z轴(垂向)示值误差等计量特性：因为在微小尺寸的比较测量中，数显测长仪的细分误差会影响测量结果，带来测量结果的偏离；部分测长仪为了满足螺纹环规的测量采用T形测头结构，T形测头在Z轴(垂向)的示值误差会影响中径测量值，也需要进行控制。并将修订原规范中的一些术语、对示值重复性校准方法、测量不确定度示例等内容进行修订。

　　本规范适用于光学机械式和数显式测长仪的校准。

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