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  • 03-19 2024

    高压加速老化箱用于半导体测试

    高压加速老化箱是一种重要的测试设备，广泛应用于半导体行业。它能够模拟恶劣环境条件，以快速评估半导体器件的可靠性和性能。这种测试方法对于产品在投入市场前的质量控制以及产品改进具有关键作用。高压加速老化箱通过在高温和高湿度的环境下施加高电压，模拟出半导体器件在实际使用中可能遇到的环境条件。这种测试方法能够快速地暴露出半导体器件的潜在问题，从而帮助制造商及时调整生产工艺，提高产品质量。此外，高压加速老化箱还具有可定制性，可以根据不同的测试需求进行设置。例如，可以调整温度、湿度和电压等参数，以模拟不同的
  • 12-19 2023

    液槽式与三槽式冷热冲击试验箱区别

    了解液槽式冷热冲击箱和三槽式冷热冲击箱区别之前，建议先了解液槽式冷热冲击箱和三槽式冷热冲击箱的作用，这样会更清楚的了解这两款设备之间的区别。液槽式冷热冲击箱是一种用于模拟产品或材料在特殊温度变化下的性能和可靠性的测试设备。它通过在不同温度的液体槽中进行快速切换，使产品或材料经历迅速的冷热冲击，在周围温度急剧变化条件下的适应能力，从而判断产品的可靠性及稳定性能等参数是否合格，通过试验提供预测和改进产品的质量和可靠性依据。三槽式冷热冲击箱是一种的环境测试设备，它可以模拟的温度环境，以检验产品耐久性和
  • 12-19 2023

    高低温试验箱可用于新品研发测试

    高低温试验箱是新品研发测试中常用的设备之一，可用于模拟产品在不同温度和湿度环境下的性能表现。这种设备在质量控制、产品改进和产品认证等方面发挥着重要作用。高低温试验箱主要由温度控制系统、湿度控制系统、样品架和箱体等组成。温度控制系统通过加热元件和制冷机组来实现对温度的精确控制，湿度控制系统则通过加湿器和除湿器来调节湿度。样品架用于放置待测试的产品，箱体则是一个密闭的空间，可以防止外部环境对测试的影响。高低温试验箱高低温试验箱的主要特点包括：温度范围广：高低温试验箱的温度范围可以根据需要进行调整，可
  • 03-15 2023

    HAST及PCT试验箱JESD22试验方法说

    HAST及PCT试验箱JESD22试验方法说明HAST/PCT试验说明JESD22-A101,JESD22-A102,JESD22-A110，JESD22-A118HAST高加速温湿度应力试验1.JESD22-A101-C:稳态温度，湿度/偏压，寿命试验（温湿度偏压寿命）试验条件包括：温度，相对湿度，和元件加偏压的时间常用测试条件：85℃±2/85%R.H±5/7.12psia（49.1kpa）/8mA/1000h本方法用于评估非气密性封装IC器件在湿度环境下的可靠性，通过温度/湿度/偏压条件应
  • 03-15 2023

    科明FPC柔性电路板环境试验箱

    FPC柔性电路板环境试验箱FPC柔性电路板，配线密度高，重量轻，厚度薄，弯折性好，高精度、高密度化的特点，产品耐用性需要高度可靠性进行支撑。FPC柔性电路板主要由（导体、胶、基材薄膜）组合而成。FPC柔性电路板环境试验箱KMH-150科明FPC柔性电路板环境试验箱应运而生，满足FPC的高温、低温储存、高温高湿试验。产品主要技术参数：温度范围：-40~+150℃湿度范围：60~98%R.H温度均匀度：≤2.0℃湿度均匀度：±3.0％R.H噪音：≤60dB冷却方式：风冷控温方式：BTHC+PID智能

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