1．X射线荧光光谱仪SEA1000S分析条件的区别使用
以下是对各种样品的分析条件的*。
定量方法    分析条件文件    材料的种类    样品材料    样品部件举例    测定条件
块体标准曲线法    Cd
Cd,Pb
Cd,Pb,Hg,Br,Cr    塑料    聚乙烯（PE）
聚丙烯（PP）
聚苯乙烯（PS）
氯乙烯型塑料(PVC)
纸  等    遥控器盒子
Air Packing
合成电路板
包装材料    测定Cd
测定时间:100秒(*)
管电压:50KV
准直器:5mΦ
空气状态:大气
滤波器:Cd用
 
Pb、Hg、Br测定
测定时间:100秒(*)
管电压:50KV
准直器:5mΦ
空气状态:大气
滤波器:Pb用
 
测定Cr
测定时间:100秒(*)
管电压:15KV
准直器:5mΦ
空气状态:大气
滤波器:Cr用
 
测定PVC
与Cr同时进行测定,但是不需要测定Cr时建议测定时间为10秒
轻金属
(定量值的信赖性比测定塑料时更差)    铝合金
镁合金    电脑等整体
构造部件
其他的材料
(定量值的信赖性比测定塑料时更差)    塑料和金属等的复合材料
纸
玻璃
陶瓷
橡胶
染料
布    电线
接头(金属部分)
标签
镜片
IC包装材料
遥控器按键
带子
块体FP法    metal    金属
(不包括铝、镁)    钢材
铜合金
焊锡
钛合金    开关、螺丝、接头(金属部分)、音频端子、IC头    测定金属
测定时间:200秒(*)
管电压:50KV
准直器:5mΦ
空气状态:大气
滤波器:Cd用及Pb用 
2．X射线荧光光谱仪SEA1000S分析线的设定
以下是对于各有害物质的分析线的*。
测定元素    分析线
Cd    Kα线
Pb    Lα线
Hg    Lα线
Br    Kβ线
Cr    Kα线
3。测定上的注意点
 

①在测定塑料样品时的注意点
 
    建议使用的样品厚度在0。5mm以上，面积在φ5mm以上。建议多集中些小的样品并
 
将样品重叠或排列之后进行测定。
 
在测量线状(圆柱形)的样品时，请将样品竖着放在测量范围的*，而且尽可能将样
 
品的底部保持平坦来放置。
 
在样品中含有砷(As)场合就算不含有铅，由于砷的影响会被误测定。另外在同时含有砷
 
和铅的场合铅的值会被较多地测定出来。
 
②在测定电线或接头等含有金属的塑料样品时的注意点
 
请将含塑料多的部分朝下放置。
 
如果定量结果超过基准值的时，请将金属部分除去再测定一次。
 
③在测定金属样品(不包括Al·Mg合金)时的注意点
 
在测定金属中的管理元素时，请使用「块体FP法(metal。bfp)」。
 
有必要将镀层和表面处理层除去之后对原材料部分进行测定。
 
④在测定Al·Mg合金样品时的注意点
 
?在测定Al合金及Mg合金的样品时请使用「块体标准曲线法」。
 
定量值的信赖性要比塑料差。
 
有必要将镀层和表面处理层除去之后对原材料部分进行测定。
 
⑤在处理管理元素的测定结果比管理值高时的例子
 
请测定同一批的样品，确认是否出现相同程度的结果。
 
请确认在能谱中是否明显地出现管理元素的波峰。
 
请确认标准物质的测定是否正确。
 
在进行塑料分析时通过能谱确认是否含有大量的金属。
 
将测定所得到的能谱保存在电脑中，请将样品以ICP进行分析。
 
⑥其他
 
测量小样品时，荧光X射线较弱所以造成测量值的偏差变大。为了避免此种误差，
 
尽可能将样品大量集中来测量，这样的话，可以提高测量精度。
 
请从测量结果确认理论统计变动值（1σ）。如果这个值太大的话，请延长测量时间。
 
测量时间增加4倍的话，测量值的偏差将减少一半。
 
测量金属产品时，请使用FP法。
 
电镀样品也以块体来测量，所以只能做为是否存在的判定，定量值并非正确。
 
含有大量的Fe少量的Cr的情况，对于Cr的是否存在的判定的精度会变差。
 
含有大量的Sn少量的Cd的情况，对于Cd的是否存在的判定的精度会变差。
 
金属样品、玻璃样品等除了以塑料为原材料以外的样品的定量依赖性比塑料差。
 
关于六价铬和PBB·PBDB
 
通过荧光X射线装置得到的测定值是作为金属的Cd、Pb、Hg、Br、Cr的重量比。
 
测定得到的Cr的测定值不等于六价铬的量
 
测定得到的Br的值不等于PBB和PBDB的量
 
如果样品中含有Sn时、由于受到ComptonScattering的影响，所以会降低Cd的定量
 
结果的信赖性。