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PCT加速老化试验机 用 途：
HAST高压加速老化试验机主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。 PCTzui主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体。
PCT加速老化试验机 特 点：
◆ 真空泵浦设计(锅炉内空气抽出)提高压力稳定性、再现性；
◆ 超*实验运转时间，长时间实验机台运转300小时；
◆ tank干燥设计，试验终止采真空干燥设计确保测试区(待测品)的干燥；
◆ 水位保护，透过炉内水位Sensor检知保护；
◆ tank耐压设计，箱体耐压力(140℃)2.65kg，符合水压测试6k；
◆ 二段式压力安全保护装置，采两段式结合控制器与机械式压力保护装置；
◆ 安全保护排压钮，警急安全装置二段式自动排压钮；
技术规格：
Models | SEST-S |
Inside Dimensions | φ22 X 33(L) |
Outside Dimensions | 69X90X63 |
Inside capacity(Liter) | 12 |
Internal material | Stainless steel#316 |
External material | SECC |
| Temperature range | 105℃～132℃ |
| Humidity Range | 75%～*/105℃～132℃ |
Temperature uniformity ℃ | ±1.0℃ |
Humidity uniformity %RH | ±5% |
| Temperature stability ℃ | ±0.3℃ |
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