单片非晶磁性测量 返回列表页

主要应用

    ●  被测材料种类：主要为非晶 / 纳米晶合金薄片、也可适用于测量其他软磁材料。

    ●  主要测量方法：单片样磁场测量兼容主流的方法：M.C 法和 H-Coil 法。

    ●  被测样品尺寸：W ( 10 ～215 ) mm × L ( 280 ～320 ) mm，T：10 μm ～500 μm。

    ●  测量电学参量：电压、电流、功率、频率、相位、功率因数、谐波等。

    ●  测量磁性参量：磁通密度 B、磁场强度 H、磁极化强度 J、比总损耗 Ps、比视在功率 Ss

                                  饱和磁通密度 Bs、矫顽力 Hc、磁导率、波形因数等。

    ●  绘制磁性曲线：磁化曲线、磁滞回线等；可切换多种磁测量单位。

功能特点

    ●  可选配的校准模块和校准转接头，通过高等级的电压表、电流表、功率表对装置进行校准。

    ●  样品的磁特性参数可溯源至电磁学基本量以保证测量数据的重复性、*性、可比性和准确度。

    ●  标准样品仅用于测量数据比对，不得用于对本装置进行校准。

    ●  单片磁导计采用双磁轭结构，可实现磁轭退磁和样品退磁。

    ●  配备专业软件，除放置样品和设置参数外，整个测试过程可全自动完成。

    ●  软件操作简便，且具有强大的数据管理功能，方便查看历史数据和报告导出。

    ●  励磁源与测量装置采用模块化设计，方便升级和维修。

系统应用结构图

磁参量测量范围

测量条件：

    ●  T：（23 ± 5）℃；试验开始之前，本装置应进行30分钟以上的预热。

    ●  试样放置于测定框内，在多次测量过程中，样品应不再被移动； 测量次数：3 ～10 次。

    ●  重复性 ={[(大值 - 小值)÷ 2 ] ÷ 平均值 } × *。

    ●  准确度一般指一年内系统的测量值与标准值的大允许误差。

6. 单片磁导计

全自动测量软件

非晶测量特性简介

非晶带材，与取向硅钢带材相比，有以下特点：

    ●  非晶带材的厚度很薄，一般为 0.025 mm，只有取向硅钢带材的 1/10 左右。

    ●  比总损耗很低，P1.5 / 50 的典型值约为 0.2 W/kg，该值是取向硅钢 P1.7 / 50  典型值的 1/5 左右。

    ●  具有高磁致伸缩和低的磁各向异性，且易产生应力而使其磁性能恶化。

    ●  还具有低矫顽力、高磁导率、低饱和磁感、高电阻率等特点。

    ●  由上可见，在工频下测量非晶磁性能，宜采用单片磁导计进行测量 ( 单片法 )。

测量方法

    ●  单片法是主流的非晶测量方法之一，如美标 A932 和日标 H7152 均早已提出了该方法；

        2014 年 IEC 起草的标准，和我国 2015 年修订的 GB/T 19345.1 均提出了单片法测量非晶磁性能。

    ●  单片法与环样法相比，其测量数据更能反映材料本身的磁特性，且省去了制样与绕线等复杂过程。

    ●  由于铁基非晶带材的上述特点可见，单片法的技术要求和实现难度均很高；

        与普通取向硅钢带材相比，对磁测设备的灵敏度要求高近 100 倍；

        考虑到非晶带材试样很小，其磁性能检测设备的灵敏度要求更高。

    ●  单片样磁场测量目前有两种方法：电流法 ( M.C ) ；磁场线圈法 ( H-Coil )。

    ●  M.C 法是电工钢单片检测 IEC 标准使用的唯方法；

        H-coil 法是美日电工钢单片检测标准使用的方法之一，该方法对磁场测量的准确度更高；

        但在磁导计的制作、微弱信号处理及干扰抑制、量值溯源等方面也有很高的要求。

    ●  TD8160 采用的单片磁导计为双磁轭结构，磁场测量兼容 M.C 法和 H-coil 法。

参与非晶比对

    ●  2014.4 ～2015.8 宝钢代表中国参加由 IEC/TC68 发起的铁基非晶带材单片磁性能测量的比对。

    ●  使用的测试仪器即天恒研制的 TD8160，在二轮的比对中，均取得了较好的测试结果。