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SGW X-4显微熔点仪
SGW X-4显微熔点仪
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访问次数：1551更新时间：2018-12-25 22:43:40

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产品简介
测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片 - 盖玻片法（热台法）测定。
产品介绍

产品特点：
 

测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片 - 盖玻片法（热台法）测定。
 
技术参数：
 
熔点测量范围

室温至 320 ℃
测量重复性

± 1 ℃（在 <200 ℃时）

± 2 ℃（在 200 ～ 300 ℃时）
光学放大倍数 目镜 10X ；物境 4X
 

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