J200飞秒激光剥蚀进样系统有30多年激光剥蚀技术的基础研究经验和LA-ICP-MS方法的研究背景,易浏览不同的样品区域,设立灵活的采样方式,用户在样品图像上可任意编辑激光采样模式,包括光栅线状、曲线、随机点、任意尺寸网格或预先编制的模式,具备智能输送和补充气控制功能,使每种气体按预定的方式达到设定值,同步开关确保稳定的ICP-MS等离子体状态,防止等离子体火焰喷出。预设阀配置可选择氩气或氦气作为载气或缓冲气。
基本信息:
1、认证:CE认证;
2、LIBS检测器:
3、Czerny Turner光谱仪 / ICCD检测器;
4、自动X-Y轴:100 mm X 100 mm 行程范围,分辨率0.2微米;
5、延保:可签署多年质保和服务协议;
6、供电要求:110-240 VAC,50/60 Hz, 5A, 保险10A;
7、可选项: LA升级为Tandem系统。
设备特点:
1、测量叶片内部不同部位的元素变化情况以及特定元素的分布情况;
2、同步开关确保稳定的ICP-MS等离子体状态;
3、两个相机提供广角和放大的样品图像和广角图像呈现;
4、自动高度调节传感器、样品室等部件的工作状态;
5、系统能完成具挑战性的化学分析工作;
6、确保在测量过程中获取高精度、稳定的元素或同位素信号;
7、剥蚀的样品颗粒能代表样品的化学特性,无需高度匹配的标准物质。
J200飞秒激光剥蚀进样系统无需高度匹配的标准物质,也能进行高精度、定量LA-ICP-MS测量,用户可*依靠J200系统输送高质量的样品颗粒到ICP-MS系统,ASI公司的技术团队拥有30多年激光剥蚀技术的基础研究经验和LA-ICP-MS方法的研究背景,J200系统产生的样品颗粒均匀一致,且尺寸分布合理,一般在10-200nm,运输效率高,J200LA-fs系列剥蚀样品精度高,且没有热效应。